Разработка автоматизированных методов идентификации параметров моделей элементов микромощных цифровых СБИС

• Автор: Слезкин, Владимир Валентинович
• Шифр специальности: 05.13.12
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 2000
• Место защиты: Москва
• Количество страниц: 193 с. : ил.

1.1 Терминология, цели и задачи идентификации параметров схемотехнических моделей компонентов микроэлектроники

1.2 Методы экстракции параметров моделей

1.3 Пороговое напряжение УЛ полевого транзистора определения и

методы экстракции.

1.4 Методы оптимизации в задаче идентификации

1.5 Обзор современного программного и аппаратного обеспечения для экстракции параметров схемотехнических моделей
1.6 Выводы.

Глава 2. Предварительная обработка экспериментальных данных в задаче

идентификации параметров моделей

2.1 Задачи и обоснование необходимости предварительной обработки данных

2.2 Анализ видов ошибок экспериментальных данных и их причин

2.3 Выбор метода построения системы распознавания образов и способы
его реализации
2.4 Алгоритм предварительного анализа исходных для процесса идентификации данных
2.5 Выводы.
Глава 3. Модифицированный метод горизонтальной оптимизации и его
применение в задачах идентификации
3.1 Постановка задачи
3.2 Сравнение и анализ известных методов.
3.3 Основные положения модифицированного метода
3.4 Результаты сравнения разработанного метода с методом вертикальной оптимизации.
3.5 Выводы.
Глава 4. Идентификация динамических параметров схемотехнических моделей
элементов.
4.1 Анализ известных методов и алгоритмов экстракции динамических
параметров.
4.2 Метод определения динамических параметров по средним задержкам в тестовых КГ
4.3 Алгоритм определения динамических параметров.
4.4 Выводы.
Глава 5. Программная реализация предложенных методов и алгоритмов
идентификации параметров
5.1 Методы разработки и реализации современного программного обеспечения
5.2 Описание алгоритма программы идентификации.
5.3 Описание графической оболочки программы идентификации
5.4 Примеры проведения идентификации параметров моделей МОП, ,
транзисторов и р переходов
5.5 Выводы
Заключение
Список литературы


Экстракция параметров из набора вольтамперных характеристик ВАХ, на основе аналитических зависимостей и преобразования графиков к виду, удобному для экстракции того или иного параметра 5. Особенность данного метода заключается в комбинации графоаналитического метода и метода прямого определения параметров из ВАХ. В работе 5 предлагается законченный алгоритм экстракции основных статических параметров модели v МОН транзистора. К недостаткам метода следует отнести зависимость суг погрешностей и, как следствие, возможность появления физически неоправданных значений параметров например, отрицательные сопротивления. Метод экстракции параметров из динамических измерений i и измерений переходных процессов i 6. В работе 6 показана принципиальная возможность экстракции параметров не только по статическим измерениям, которым посвящена большая часть публикации, но и возможность экстракции на основе динамических измерений, по амплитудночастотным характеристикам АЧХ, и на основе анализа переходных процессов. Метод экстракции на основе динамических измерений имеет две разновидности так называемый метод динамической проводимости или метод входной проводимости, и метод измерения процесса накопления заряда i i. Первый из них базируется на малосигналыюм анализе, суть которого состоит в подаче синусоидального сигнала с постоянным смещением на затвор транзистора. Второй на подаче на затвор периодического сигнала с большой длительностью и измерении тока рекомбинации поверхностных состояний или на выводах стокисток, или вывод подложки.