Разработка математического обеспечения специализированных систем контроля цифровых узлов на основе автоморфизмов тестовых последовательностей

• Автор: Петрухнова, Галина Викторовна
• Шифр специальности: 05.13.11
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 1999
• Место защиты: Воронеж
• Количество страниц: 138 с. : ил.

1. Актуальные задачи контроля средств вычислительной техники

1.1. Типовой технологический процесс изготовления и контроля средств вычислительной техники

1.2. Виды диагностируемых внутрисхемным контролем неисправностей цифровых узлов

1.3. Классификация методов синтеза тестовых последовательностей

1.4. Обоснование использования методов инвариантногруппового анализа и структурной классификации

для синтеза тестов внутрисхемного контроля

1.5. Цель и задачи диссертационного исследования

1.6 Основные выводы

2. Моделирование процессов автоматизированного синтеза тестов для внутрисхемного контроля цифровых узлов

2.1. Модель процедуры автоматизированного синтеза тестов внутрисхемного контроля

2.2. Оценка качества тестов внутрисхемного контроля

на основе принципа минимума симметрии
2.3. Структурная модель тестовой последовательности
2.4. Синтез критериев качества тестов внутрисхемного контроля
2.5. Постановка задачи оптимизации весовых множеств
на основе обобщенного энтропийного критерия
2.6. Метод сжатия тестов
2.7. Выводы
3. Разработка алгоритмического обеспечения для процессов автоматизированного синтеза тестов
3.1. Структура алгоритмического обеспечения
3.2. Особенности критериев качества тестов внутрисхемного контроля и их влияние на выбор алгоритма
3.3. Алгоритм оптимизации весовых множеств
3.4. Сжатие теста
3.5. Обобщенный алгоритм синтеза тестов внутрисхемного контроля цифровых узлов
3.6. Выводы
4. Экспериментальные исследования алгоритмического обеспечения процессов автоматизированного синтеза тестов для внутрисхемного контроля цифровых узлов
4.1. Программные модели ЦИС
4.2. Результаты исследования критериев качества тестов внутрисхемного контроля
4.3. Результаты исследования алгоритма сжатия
4.4. Исследование алгоритма оптимизации весовых множеств
4.5. Исследование обобщенного алгоритма синтеза тестов для внутрисхемного контроля цифровых узлов
4.6. Выводы
Заключение
Список литературы


Подготовка и Формовка олектрорадиоэлементов 0. Комплектование 0. Сборка 3. Пайка 5. Межоперационные перемещения 0. В работе указывается, что большинство дефектов возникает в процессе производства печатных узлов, а дефекты самих комлектующих элементов КЗ незначительны и составляют около 5. По данным работы поток годных печатных узлов составляет примерно от всех произведенных печатных узлов. При этом короткие замыкания и обрывы являются наиболее распространенными дефектами ЦФМ. Они составляют примерно от общего количества дефектов . ЦФМ, их серийности, наличия контрольноизмерительного оборудования, его стоимости, квалификации специалистов по ремонту и настройке и т. Преимущества первого подхода заключаются в уменьшении номенклатуры оборудования и сокращении технологических переходов, недостатки в повышении требований к квалификации специалистов по ремонту и настройке, в увеличении трудоемкости контроля и поиска дефектов, в снижении управляемости технологического процесса по всем его звеньям. Данная стратегия обычно применяется в опытном и мелкосерийном производстве. Второй подход обеспечивает высокую управляемость качеством контроля при серийном производстве СВТ. Он, хотя и увеличивает номенклатуру контрольноиспытательного оборудования, но зато снижает требования к квалификации специалистов по ремонту и настройке. Этот подход, в основном, обусловлен тем фактом, что затраты средств на обнаружение и устранение дефектов возрастают примерно в раз на каждом последующем этапе производства СВТ 1. На рис.