Анализ и разработка методов повышения надежности полупроводниковых постоянных запоминающих устройств и оценка эффективности их использования
- Автор:
Терзян, Оник Артемович
- Шифр специальности:
05.13.05
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
1983
- Место защиты:
Ереван
- Количество страниц:
181 c. : ил
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Анализ и разработка методов повышения надежности полупроводниковых постоянных запоминающих устройств и оценка эффективности их использования», автор — Терзян, Оник Артемович, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 05.13.05. Работа подготовлена в городе Ереван в 1983 году. Объем работы: 181 c. : ил. Внутренний код товара: 01004030894. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование методов сфокусированной апертуры для повышения эффективности СВЧ-технологических установок открытого типа | Потапова, Ольга Владимировна | 1998 |
| Повышение информативности приборов астроориентации на базе ПЗС матрицы видимого диапазона | Пузиков, Денис Юрьевич | 2002 |
| Принципы построения автоматических систем управления доступом с радиационным контролем для ядерно-опасных объектов | Соколов, Егор Евгеньевич | 1997 |