Исследование фазовых состояний тонких пленок жидких кристаллов методами атомно-силовой микроскопии
- Автор:
Гирфанова, Флюза Марсовна
- Шифр специальности:
01.04.14, 01.04.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2008
- Место защиты:
Уфа
- Количество страниц:
122 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Моделирование техногенного загрязнения в криолитозоне | Пермяков, Петр Петрович | 2004 |
| Акустические исследования нематических жидких кристаллов, ориентированных совместным действием электрического и магнитного полей | Неронов, Николай Александрович | 2000 |
| Экспериментальное исследование излучательных свойств и параметров сильноионизованной плазмы аргона и азота атмосферного давления | Маркин, Александр Валерьевич | 2002 |