Применение методов рентгеновской дифракции для исследования структуры микрокластеров в конденсированных средах
- Автор:
Додонов, Вадим Георгиевич
- Шифр специальности:
02.00.04
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2000
- Место защиты:
Кемерово
- Количество страниц:
135 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Селективность редоксметрических измерений как основа иодометрического анализа | Каверин, Александр Владимирович | 2002 |
| Термодинамика адсорбции паров органических соединений фосфорорганическими дендримерами | Герасимов, Александр Владимирович | 2011 |
| Физико-химические закономерности формирования наноструктурированных металлических и оксидных слоев в процессах химического осаждения из паров соединений металлов с органическими лигандами | Гельфонд, Николай Васильевич | 2010 |