Применение методов рентгеновской дифракции для исследования структуры микрокластеров в конденсированных средах
- Автор:
Додонов, Вадим Георгиевич
- Шифр специальности:
02.00.04
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2000
- Место защиты:
Кемерово
- Количество страниц:
135 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Приготовление и физико-химические свойства кобальт-алюминиевых катализаторов синтеза Фишера-Тропша с добавками фосфат-анионов и оксида циркония или рутения | Кунгурова, Ольга Анатольевна | 2017 |
| Фазовые равновесия в системах из галогенидов, карбонатов и сульфатов некоторых s1 – элементов | Сырова, Вера Ивановна | 2019 |
| Термо- и фотостимулированные превращения в наноразмерных пленках оксида вольфрама (VI), свинца и системах на их основе | Бин, Сергей Викторович | 2011 |