Анализ дефектов в структурах гидроксидов и оксидов алюминия на основе рентгенографических данных
- Автор:
Шефер, Кристина Ивановна
- Шифр специальности:
02.00.04
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2008
- Место защиты:
Новосибирск
- Количество страниц:
165 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Изучение физико-химических особенностей процессов, протекающих на поверхности минеральных дисперсий | Во Дай Ту | 2012 |
| Определение физико-химических характеристик поверхности полимерных мембран методом атомно-силовой микроскопии | Сазанова, Татьяна Сергеевна | 2019 |
| Оксимы 3-фенил-5,5-дизамещенных-4-изоксазолонов и их взаимодействие с солями никеля(II), кобальта(II) и марганца(II) | Суховерская, Алена Владимировна | 2010 |