Исследование методами растровой электронной микроскопии пленок и гетероструктур на основе нитрида галлия
- Автор:
Вергелес, Павел Сергеевич
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2017
- Место защиты:
Черноголовка
- Количество страниц:
140
Стоимость:
700 р.499 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Баллистические планарные структуры из монокристаллического вольфрама | Черных, Анатолий Васильевич | 2002 |
| Нелинейные электрические и электроакустические эффекты в сверхвысокочастотных сегнетоэлектрических варакторах | Михайлов, Анатолий Константинович | 2009 |
| Моделирование влияния температурных режимов технологического процесса изготовления интегральных микросхем на их радиационную стойкость | Гришаков, Владимир Владимирович | 2003 |