Исследование методами растровой электронной микроскопии пленок и гетероструктур на основе нитрида галлия
- Автор:
Вергелес, Павел Сергеевич
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2017
- Место защиты:
Черноголовка
- Количество страниц:
140
Стоимость:
700 р.499 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Релаксация рабочих состояний в лазере на внутрицентровых переходах доноров V группы в кремнии при излучении фононов | Цыпленков, Вениамин Владимирович | 2010 |
| Модовая структура и нелинейные эффекты в резонансных и нерезонансных фотонных кристаллах | Иорш, Иван Владимирович | 2012 |
| Рентгенодифракционное исследование приповерхностных слоев кремния и гетероструктур A III B V с градиентом деформации | Барашев, Матвей Нестерович | 2002 |