Фундаментальные основы технологии фемтосекундной лазерной кристаллизации сегнетоэлектрических микроструктур для устройств микро- и оптоэлектроники и их нелинейно-оптическая диагностика
- Автор:
Елшин, Андрей Сергеевич
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2018
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
134
Стоимость:
700 р.499 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Диагностические методы оценки надежности полупроводниковых изделий с использованием электростатических разрядов | Адамян, Александр Гариивич | 2003 |
| Тонкопленочные структуры "молибден-медь" с эффектом близости и сверхпроводниковым переходом для сверхчувствительных субмиллиметровых болометров | Коваленко, Алла Григорьевна | 2005 |
| Микромагнитные состояния эпитаксиальных микро- и наноструктур Fe(001) и Fe(011) | Фомин, Лев Александрович | 2012 |