Фундаментальные основы технологии фемтосекундной лазерной кристаллизации сегнетоэлектрических микроструктур для устройств микро- и оптоэлектроники и их нелинейно-оптическая диагностика
- Автор:
Елшин, Андрей Сергеевич
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2018
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
134
Стоимость:
700 р.499 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Электрофизическое диагностирование МДП-структур с неоднородно распределенными параметрами | Лукин, Сергей Владимирович | 1998 |
| Исследование радиационной деградации и оценка радиационной стойкости светодиодов на основе гомо- и гетероструктур первого и второго поколения на базе трех-четырехкомпонентных твердых растворов А3В5 | Селезнев, Дмитрий Владимирович | 2006 |
| Технология изготовления полиимидных коммуникационных структур для сборки высокоинтегрированных изделий микроэлектроники | Дарбинян, Артур Владимирович | 2002 |