Магнитооптический метод в составе магнитно-силовой микроскопии для исследования доменной структуры тонких пленок
- Автор:
Высоких, Юрий Евгеньевич
- Шифр специальности:
05.11.13
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2018
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
Стоимость:
700 р.499 руб.
до окончания действия скидки
01
04
49
04
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Разработка прибора неразрушающего контроля стенки днищ стальных цилиндрических резервуаров, реализующего технологию MFL | Пудовкин, Олег Петрович | 2017 |
| Методы контроля и диагностики поглотительной способности твердых сорбентов по параметрам теплопереноса | Балабанов, Павел Владимирович | 2016 |
| Метрологическое обеспечение ядерно-физических методов контроля радиохимического производства изотопной продукции | Попов, Юрий Сергеевич | 2005 |