Магнитооптический метод в составе магнитно-силовой микроскопии для исследования доменной структуры тонких пленок
- Автор:
Высоких, Юрий Евгеньевич
- Шифр специальности:
05.11.13
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2018
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
Стоимость:
700 р.499 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Метод и аппаратура спектрального экспресс-анализа показателей качества изоляционных масел | Гиниатуллин, Руслан Анатольевич | 2009 |
| Метод и средство для поверки измерителей артериального давления с применением генератора переменного расхода | Сойко, Алексей Игорьевич | 2008 |
| Повышение точности измерения испытательного напряжения и обеспечение электробезопасности в приборах электроискрового контроля качества изоляции кабеля | Редько, Людмила Анатольевна | 2004 |