Магнитооптический метод в составе магнитно-силовой микроскопии для исследования доменной структуры тонких пленок
- Автор:
Высоких, Юрий Евгеньевич
- Шифр специальности:
05.11.13
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2018
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
Стоимость:
700 р.499 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Разработка первичного измерительного преобразователя для определения спектральной плотности инфракрасного излучения в методах неразрушающего контроля изделий | Поляков, Евгений Владиславович | 2005 |
| Метод и измерительная система неразрушающего контроля технологических параметров четырехслойных изделий | Банников, Александр Николаевич | 2008 |
| Контроль планетарной статистики вариаций критической частоты области F2 ионосферы с помощью мировой сети автоматических ионосферных станций | Кузнецов, Владимир Александрович | 2005 |