Диагностика полупроводниковых структур методом электрохимического вольт-фарадного профилирования
- Автор:
Фролов, Дмитрий Сергеевич
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2016
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
151
Стоимость:
700 р.499 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Фотонамагничивание магнитных полупроводников и диэлектриков | Токман, Иосиф Давидович | 1984 |
| Получение и исследование нерасходящихся (бесселевых) пучков от полупроводниковых лазеров и светодиодов | Лосев, Сергей Николаевич | 2014 |
| Исследование состава самоорганизованных нанокластеров GexSi1-x/Si методом сканирующей оже-микроскопии | Николичев, Дмитрий Евгеньевич | 2009 |