Диагностика полупроводниковых структур методом электрохимического вольт-фарадного профилирования
- Автор:
Фролов, Дмитрий Сергеевич
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2016
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
151
Стоимость:
700 р.499 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Теория спиновых флуктуаций носителей заряда в полупроводниковых наноструктурах | Смирнов, Дмитрий Сергеевич | 2017 |
| Прямая и обратная задачи теории кинетических коэффициентов в изотропном приближении | Половинкин, В.Г. | 1984 |
| Особенности электрофизических свойств твердотельных структур при воздействии наносекундных импульсов электромагнитного излучения | Требунских, Сергей Юрьевич | 2006 |