Диагностика полупроводниковых структур методом электрохимического вольт-фарадного профилирования
- Автор:
Фролов, Дмитрий Сергеевич
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2016
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
151
Стоимость:
700 р.499 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Физико-технологические основы легирования узкозонных полупроводниковых соединений CdxHg1-xТе радиационно-термическими воздействиями | Талипов Нияз Хатимович | 2016 |
| Получение и исследование электрофизических свойств объемных и пленочных материалов в тройной системе Co-Ge-Te | Иман Абдель-Монем Эль-Сайед Махди | 2011 |
| Исследования деформированного состояния полупроводниковых гетероструктур на основе соединений А3В5 с помощью электронного зонда | Уманский, Владимир Евгеньевич | 1983 |