Диагностика полупроводниковых структур методом электрохимического вольт-фарадного профилирования
- Автор:
Фролов, Дмитрий Сергеевич
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2016
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
151
Стоимость:
700 р.499 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Локализованные электронные и фононные состояния в полупроводниковых ветвящихся молекулярных структурах | Рындина Татьяна Сергеевна | 2018 |
| Проявление электрон-фононного взаимодействия в квантово-размерных структурах | Старчук, Александр Сергеевич | 2006 |
| Резонансное и брэгговское рассеяние быстрых электронов от совершенных поверхностей InAs и GaAs в дифракции на отражение | Мансуров, Владимир Геннадьевич | 2000 |