Развитие методов просвечивающей электронной микроскопии для исследования пространственного распределения структурных особенностей наноматериалов
- Автор:
Кириленко, Демид Александрович
- Шифр специальности:
01.04.07
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
2019
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
203
Стоимость:
700 р.499 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Атомно-силовая микроскопия кристаллов лизоцима ромбической модификации | Гвоздев, Николай Викторович | 2001 |
| Развитие рентгеновского дифракционного метода исследования специальных границ в ОЦК-металлах | Яковлева, Татьяна Петровна | 2000 |
| Многоволновая дифракция в фотоннокристаллических структурах : спектроскопия отражения и пропускания света | Федотов, Владимир Григорьевич | 2012 |