Развитие методов вторично-ионной масс-спектрометрии и рентгеновской дифрактометрии для исследования многослойных полупроводниковых гетероструктур
- Автор:
Юнин, Павел Андреевич
- Шифр специальности:
01.04.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2016
- Место защиты:
Нижний Новгород
- Количество страниц:
166
Стоимость:
700 р.499 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Закономерности изменения структуры, сорбционных свойств и деформационного поведения технического титана ВТ1-0 в результате электронно-пучковой обработки | Бородовицина Оксана Михайловна | 2018 |
| Надмолекулярные комплексы липидов и ДНК: соотношение структуры, морфологии и активности | Эл Кади Ашраф Сайед | 2003 |
| Структурирование стабилизированных многостенных углеродных нанотрубок в капле коллоидной системы без- и с постоянным электрическим воздействием | Тет Пьо Наинг | 2017 |