Развитие методов вторично-ионной масс-спектрометрии и рентгеновской дифрактометрии для исследования многослойных полупроводниковых гетероструктур
- Автор:
Юнин, Павел Андреевич
- Шифр специальности:
01.04.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2016
- Место защиты:
Нижний Новгород
- Количество страниц:
166
Стоимость:
700 р.499 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование критической динамики моделей магнитных материалов методами вычислительной физики | Мутайламов, Вадим Ахмедбаширович | 2005 |
| Структурное превращения при старении сплавов медь-бериллий | Толстой, Александр Владимирович | 1984 |
| Переходы изолятор-сверхпроводник-металл в легированных невырожденных полупроводниках | Агафонов, Александр Иванович | 2005 |