Развитие методов вторично-ионной масс-спектрометрии и рентгеновской дифрактометрии для исследования многослойных полупроводниковых гетероструктур
- Автор:
Юнин, Павел Андреевич
- Шифр специальности:
01.04.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2016
- Место защиты:
Нижний Новгород
- Количество страниц:
166
Стоимость:
700 р.499 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Развитие методов вторично-ионной масс-спектрометрии и рентгеновской дифрактометрии для исследования многослойных полупроводниковых гетероструктур», автор — Юнин, Павел Андреевич, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 01.04.07. Работа подготовлена в городе Нижний Новгород в 2016 году. Объем работы: 166. Внутренний код товара: 01008550706. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Подрешеточные модели в теории роста многокомпонентных кристаллов | Козеёвска, Анна Степановна | 1984 |
| Оптические и микроволновые резонансы в триплетном состоянии некоторых молекулярных примесных центров | Суйсалу, Артур Паулович | 1984 |
| Кинетика функции распределения по размерам при эпитаксиальном росте наноструктур | Бердников, Юрий Сергеевич | 2016 |