Структурные исследования функциональных материалов методами рассеяния синхротронного излучения
- Автор:
Чернышов, Дмитрий Юрьевич
- Шифр специальности:
01.04.04, 01.04.07
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
2019
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
154
Стоимость:
700 р.499 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Особенности измерений линейных размеров субмикронных структур методом растровой электронной микроскопии | Заблоцкий, Алексей Васильевич | 2009 |
| Диагностика населенностей и процессов релаксации колебательных и вращательных состояний молекул в газах методом КАРС | Фабелинский, Виктор Иммануилович | 1984 |
| Винтовые электронные потоки гиротронов: динамика пространственного заряда и методы повышения качества | Лукша, Олег Игоревич | 2011 |