Микроволновая микроскопия полупроводниковых структур
- Автор:
Королев, Сергей Александрович
- Шифр специальности:
01.04.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2018
- Место защиты:
Нижний Новгород
- Количество страниц:
106
Стоимость:
700 р.499 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Лазерные и оптические спектрометры для разработки и контроля наукоемких технологий : Диагностика газовых, жидких, твердых, ультрадисперсных сред и живых тканей | Вовк, Сергей Мирославович | 1999 |
| Эмиссионная мессбауэровская спектроскопия на кристаллических зондах | Серегин, Никита Павлович | 2003 |
| Применение методов фрактального анализа для исследования структуры пористых металлических материалов | Кучерявский, Сергей Владимирович | 2001 |