Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия для контроля локального изменения химического и фазового составов тонких пленок под действием низкоэнергетического ионного облучения
- Автор:
Дементьева, Мария Михайловна
- Шифр специальности:
01.04.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2019
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
123
Стоимость:
700 р.499 руб.
до окончания действия скидки
01
09
54
49
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Шариковый холодный замедлитель реактора ИБР-2 | Булавин, Максим Викторович | 2017 |
| Экспериментальные методы изготовления и исследования диодных структур на базе нанокристаллического пористого кремния | Рогожина, Галина Андреевна | 2019 |
| Спектроскопия комбинационного рассеяния света кристаллов с разупорядоченными фазами | Сидоров, Николай Васильевич | 1999 |