Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия для контроля локального изменения химического и фазового составов тонких пленок под действием низкоэнергетического ионного облучения
- Автор:
Дементьева, Мария Михайловна
- Шифр специальности:
01.04.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2019
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
123
Стоимость:
700 р.499 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Развитие методики эллипсометрического контроля параметров наноструктур Fe/Si в процессе роста | Тарасов, Иван Анатольевич | 2014 |
| Изучение анизотропного сверхтонкого взаимодействия в парамагнитных кристаллах методом гамма-резонансной спектроскопии | Чуев, Михаил Александрович | 1984 |
| Методы получения и исследования физико-механических свойств композиционных материалов на основе никелида титана | Овчаренко, Владимир Владимирович | 2006 |