Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия для контроля локального изменения химического и фазового составов тонких пленок под действием низкоэнергетического ионного облучения
- Автор:
Дементьева, Мария Михайловна
- Шифр специальности:
01.04.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2019
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
123
Стоимость:
700 р.499 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Разработка вихревых расходомеров и водосчетчиков | Филиппова, Ольга Михайловна | 2001 |
| Автоматизация малых физических установок на основе встраиваемых многофункциональных контроллеров | Тупиков, Виталий Сергеевич | 1999 |
| Тонкопленочные гетероструктуры оксидных сверхпроводников и их применение для сверхпроводниковых квантовых интерферометров | Фалей, Михаил Ильич | 2005 |