Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия для контроля локального изменения химического и фазового составов тонких пленок под действием низкоэнергетического ионного облучения
- Автор:
Дементьева, Мария Михайловна
- Шифр специальности:
01.04.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2019
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
123
Стоимость:
700 р.499 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Торцевой электромагнитный калориметр на основе кристаллов BGO для детектора КМД-3 | Ахметшин, Равель Равилович | 2017 |
| Электронные средства автоматизации криогенных установок в ядерно-физических экспериментах | Трофимов, Виктор Алексеевич | 2006 |
| Электрофизические свойства анизотропных композиционных материалов и их использование для создания криогенных переключающих элементов | Волков, Андрей Юрьевич | 1998 |