Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия для контроля локального изменения химического и фазового составов тонких пленок под действием низкоэнергетического ионного облучения
- Автор:
Дементьева, Мария Михайловна
- Шифр специальности:
01.04.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2019
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
123
Стоимость:
700 р.499 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Методы и средства измерений скорости и температуры частиц в быстропротекающих процессах напыления порошковых покрытий | Соловьев, Андрей Александрович | 2010 |
| Метод постоянной мощности для изучения свойств веществ при импульсном нагреве | Смотрицкий, Александр Андреевич | 2009 |
| Применение поляризационно-фазовых эффектов акусто- и магнитооптического взаимодействия для управления лазерным излучением | Антонов, Сергей Николаевич | 2003 |