Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия для контроля локального изменения химического и фазового составов тонких пленок под действием низкоэнергетического ионного облучения
- Автор:
Дементьева, Мария Михайловна
- Шифр специальности:
01.04.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2019
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
123
Стоимость:
700 р.499 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Разработка аналоговой электроники считывания многоканальных физических детекторов | Усенко, Евгений Анатольевич | 2018 |
| Способы повышения аналитических и эксплуатационных характеристик масс-спектрометров МИ 1201Т | Шубин, Владимир Михайлович | 2003 |
| Разработка источника мюонов и детекторной системы для поиска редких мюонных процессов | Джилкибаев, Рашид Максудович | 2012 |