Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия для контроля локального изменения химического и фазового составов тонких пленок под действием низкоэнергетического ионного облучения
- Автор:
Дементьева, Мария Михайловна
- Шифр специальности:
01.04.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2019
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
123
Стоимость:
700 р.499 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Синтез масс-селективных электродных структур с возмущениями электрического поля | Дубков, Михаил Викторович | 2018 |
| Оптические параметры 2м пропановой камеры и свойства множественного образования частиц в РС и CC взаимодействиях при 4,2 ГэВ/с на нуклон | Беляков, Виктор Александрович | 2002 |
| Установка кластерного типа для регистрации широких атмосферных ливней в Экспериментальном комплексе НЕВОД | Шульженко, Иван Андреевич | 2018 |