Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия для контроля локального изменения химического и фазового составов тонких пленок под действием низкоэнергетического ионного облучения
- Автор:
Дементьева, Мария Михайловна
- Шифр специальности:
01.04.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2019
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
123
Стоимость:
700 р.499 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Дрейфовый метод позиционно-чувствительной регистрации гамма-излучения средних энергий | Шилов, Владимир Александрович | 1983 |
| Оптические методы и приборы анализа дисперсного состава и концентрации конденсированной фазы отработавших газов в процессах фильтрации СВС-материалами | Исаева, Жанар Максовна | 2005 |
| Прибор для регистрации элементного состава газов | Родин, Дмитрий Владимирович | 2013 |