Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия для контроля локального изменения химического и фазового составов тонких пленок под действием низкоэнергетического ионного облучения
- Автор:
Дементьева, Мария Михайловна
- Шифр специальности:
01.04.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2019
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
123
Стоимость:
700 р.499 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия для контроля локального изменения химического и фазового составов тонких пленок под действием низкоэнергетического ионного облучения», автор — Дементьева, Мария Михайловна, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 01.04.01. Работа подготовлена в городе Москва в 2019 году. Объем работы: 123. Внутренний код товара: 01008586581. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Оптимизация алгоритмов и методов работы дифференциальных спектрометров с произвольной спектральной адресацией в задачах анализа газовых смесей | Фадеев, Александр Владимирович | 2011 |
| Высокоскоростная параллельная регистрация электронных спектров с временным разрешением | Романенко, Виталий Александрович | 2000 |
| Разработка основ методики неразрушающего контроля состояния металла, сочетающей методы индентирования и акустической эмиссии | Мещеряков, Денис Евгеньевич | 2009 |