Электрический пробой диэлектриков и полупроводников, индуцированный плотными электронными пучками наносекундной длительности
- Автор:
Олешко, Владимир Иванович
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
1999
- Место защиты:
Томск
- Количество страниц:
202 с.
Стоимость:
700 р.499 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Электрические и фотоэлектрические свойства монокристаллов InS и гамма-In2S3 | Курбанов, Элмхан Мадад оглы | 1984 |
| Исследование динамики решетки низкоразмерных реальных структур на основе GaAs/ALAs методом численного эксперимента | Сачков, Виктор Анатольевич | 2011 |
| Анизотропные полупроводниковые датчики интенсивности излучения миллиметрового диапазона | Казарян, Ваган Артаваздович | 2004 |