Моделирование резонансных явлений вблизи краев поглощения в условиях отражения рентгеновского синхротронного излучения от многослойных структур
- Автор:
Репченко, Юрий Леонидович
- Шифр специальности:
01.04.07, 05.13.18
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2014
- Место защиты:
Воронеж
- Количество страниц:
166 с. : ил.
Стоимость:
700 р.499 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Численный расчет структуры доменных границ в реальных кристаллах | Плавский, Владимир Васильевич | 1999 |
| Влияние дефектов структуры и микрорельефа поверхностей на оптическую однородность монокристаллов | Третьяков, Сергей Андреевич | 2019 |
| Закономерности влияния электронно-пучковой обработки на структуру и фазовый состав стали 20×13 при усталости | Бессонов, Даниил Александрович | 2013 |