Туннельная атомно-силовая микроскопия твердотельных наноструктур
- Автор:
Филатов, Дмитрий Олегович
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
2013
- Место защиты:
Нижний Новгород
- Количество страниц:
353 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Сегнетоэлектрические тонкопленочные элементы для электрически управляемых СВЧ устройств | Иванов, Андрей Владимирович | 2004 |
| Электронный транспорт в составных квантовых ямах InAlAs/InGaAs/InAlAs, содержащих наноразмерные вставки InAs | Пономарев, Дмитрий Сергеевич | 2012 |
| Влияние освещения на ионное распыление широкозонного гетерофазного полупроводника CdS-PbS | Сердобинцев, Алексей Александрович | 2006 |