Туннельная атомно-силовая микроскопия твердотельных наноструктур
- Автор:
Филатов, Дмитрий Олегович
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
2013
- Место защиты:
Нижний Новгород
- Количество страниц:
353 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Электрофизические свойства пленок SnO2 и гетероструктур n-SnO2 / p-Si | Плешков, Алексей Петрович | 2007 |
| Исследование и разработка конструкции и технологии изготовления силовых интегральных микросхем на основе КМОП транзисторов | Тихонов, Роберт Дмитриевич | 2001 |
| Разработка глобального метода экстракции статических Spice параметров микроэлектронных приборов на основе моделирования вольтамперных характеристик | Корчагин, Александр Федорович | 2006 |