Туннельная атомно-силовая микроскопия твердотельных наноструктур
- Автор:
Филатов, Дмитрий Олегович
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Докторская
- Год защиты:
2013
- Место защиты:
Нижний Новгород
- Количество страниц:
353 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование планарных полупроводниковых структур методами линейного и нелинейного отражения света | Шутов, Дмитрий Геннадьевич | 2002 |
| Использование капилляров для формирования контакта металл-полупроводник | Поярков, Вячеслав Николаевич | 2002 |
| Многомезовые лавинно-пролетные диоды миллиметрового диапазона с повышенным уровнем выходной мощности СВЧ | Ташилов, Аслан Султанович | 2006 |