Неразрушающие высоколокальные методы электронно-зондовой диагностики приборных структур микро- и наноэлектроники
- Автор:
Орликовский, Николай Александрович
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2012
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
144 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Исследование эффектов зарядки массивных диэлектриков и диэлектрических микроструктур электронными пучками средних энергий | Андрианов, Матвей Валентинович | 2005 |
| Электрофизические свойства и оптимизация параметров эпитаксиальных псевдоморфных НЕМТ структур с односторонним и двухсторонним дельта - легированием | Климов, Евгений Александрович | 2012 |
| Моделирование солнечных батарей на основе различных полупроводников | Фролкова, Наталья Олеговна | 2011 |