Неразрушающие высоколокальные методы электронно-зондовой диагностики приборных структур микро- и наноэлектроники
- Автор:
Орликовский, Николай Александрович
- Шифр специальности:
05.27.01
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2012
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
144 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Электрооптические свойства жидкокристаллических ячеек с повышенной крутизной вольт-контрастной характеристики | Калашников, Алексей Юрьевич | 1999 |
| Контроль кристаллов интегральных схем на основе статистического моделирования методом точечных распределений | Столяренко, Юлия Александровна | 2006 |
| Разработка методов проектирования элементов МОЭМС, изготавливаемых по технологии поверхностной микрообработки | Лысенко, Игорь Евгеньевич | 2002 |