Параметры и корреляции наноструктуры поверхности и свойств полимерных материалов различного функционирования назначения

• Автор: Воробьев, Григорий Игоревич
• Шифр специальности: 05.17.06
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 2013
• Место защиты: Санкт-Петербург
• Количество страниц: 106 с. : ил.

ОГЛАВЛЕНИЕ
ВВЕДЕНИЕ
1 ЛИТЕРАТУРНЫЙ ОБЗОР
1.1 Сканирующая зондовая микроскопия
1.2 Атомно-силовая микроскопия
1.2.1 Потенциал Леннорда - Джонс
1.2.2 Зондовые датчики атомно-силовых микроскопов
1.2.3 Контактный, колебательный и бесконтактный методы
атомно-силовой микроскопии
2 МЕТОДИКИ ПОЛУЧЕНИЯ ОБРАЗЦОВ И ОБОРУДОВАНИЕ
ДЛЯ ИХ ИССЛЕДОВАНИЯ
2.1 Методики получения образцов
2.2 Применяемые материалы и оборудование
3 ИССЛЕДОВАНИЕ ПОВЕРХНОСТИ КОМПОЗИЦИОННЫХ ПЛЕНОК ОГРАНИЧЕННО СОВМЕСТИМЫХ ПОЛИМЕРОВ
3.1 Общие сведения о поливиниловом спирте
3.1.1. Конфигурация поливинилового спирта
3.2 Свойства поливинилового спирта
3.2.1 Физико-механические свойства поливинилового спирта
3.2.2 Растворимость поливинилового спирта в воде
и других растворителях
3.3 Сольвар и его особенности
3.4 Постановка задач исследования производных поливинилацетата
3.5 Экспериментальные исследования и обсуждение результатов
4 ИЗУЧЕНИЕ ПОВЕРХНОСТИ ПЛЕНОК
ДИАНОВЫХ ЭПОКСИДНЫХ СМОЛ
4.1 Особенности, основные свойства и применение эпоксидных смол
4.1.1 Особенности технологии эпоксидных смол
4.2 Отверждение эпоксидных смол
4.3 Задачи проведения эксперимента
с образцами эпоксидных смол
4.4 Исследование эпоксидных смол и его результаты
5 ИЗУЧЕНИЕ СТРУКТУРЫ ПОВЕРХНОСТИ ОРИЕНТИРОВАННЫХ ПЛЕНОК ПОЛИОЛЕФИНОВ
5.1 Общие сведения и задачи исследования
5.2 Результаты экспериментов и их обсуждение
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
СПИСОК ИСПОЛЬЗОВАННОЙ ЛИТЕРАТУРЫ
ПРИЛОЖЕНИЕ

СПИСОК СОКРАЩЕНИЙ
СЗМ - Сканирующая зондовая микроскопия СТМ - Сканирующая туннельная микроскопия
АСМ - Атомно-силовая микроскопия
СЭМ - Сканирующая электронная микроскопия
ПВА - Поливинилацетат
ПВС - Поливиниловый спирт
ВС -ВА - Сополимер винилового спирта и винилацетата 1111 - Полипропилен ПЭ - Полиэтилен

программы для представления результатов сканирования, математической обработки и проведения измерений уже независимо от панели управления.
Основным документом программы является кадр (синонимы - скан, поверхность). Кадр - это полученная в результате сканирования, или конвертирования других файлов, прямоугольная таблица точек, каждая из которых задает одну точку поверхности образца в трехмерном пространстве. Таблица описывает прямоугольную (в проекции на плоскость ХУ) часть поверхности образца, для которой было проведено сканирование. Точки кадра эквидистантно расположены по осям X и У (шаги по осям X и У могут быть различны), высоты Ъ определяются высотой точек поверхности образца. При отображении кадра на экране в 2Г) окнах принята следующая система координат: ось X направлена горизонтально слева направо, ось У вертикально сверху вниз, ось Ъ перпендикуляра плоскости экрана. В ЗЭ окне направление осей указано на изображаемом в окне рисунке.
Программа может строить заданные пользователем Ш сечения поверхности и измерять их параметры, определять параметры шероховатости Ш сечения и заданной пользователем прямоугольной части поверхности, рассчитывать фрактальную размерность сечений и квадратных частей поверхности, определять зависимость фрактальной размерности от направления и анализировать фурье-образ поверхности.
Также программа позволяет:
- проводить матричную (по заданным пользователем матричным фильтрам), медианную и специальную фильтрацию поверхностей;
- вычислять фурье-преобразование и обратное фурье-преобразование поверхности и выполнять на фурье-образе частотную фильтрацию;
- проводить арифметические операции с несколькими поверхностями (сложение, вычитание и т. д.);
- корректировать высоты отдельных точек поверхности;