Методы разработки и тестирования аппаратных потактовых моделей микропроцессоров на программируемых логических интегральных схемах
- Автор:
Байда, Юрий Владимирович
- Шифр специальности:
05.13.05
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2013
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
131 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Надежность интеллектуальных датчиков систем управления газоперерабатывающих производств | Юсупов, Дмитрий Роальдович | 2006 |
| Метод, модели и устройство идентификации параметров датчиков в системах контроля и управления | Петров, Александр Сергеевич | 2013 |
| Дефектообразование и технологии создания кремниевых подложек для интегральных схем вычислительной техники | Скворцов, Альберт Матвеевич | 1999 |