Исследование схем частотного сканирования диаграммы направленности антенных решеток с постоянной частотой излучения

• Автор: Малов, Андрей Владимирович
• Шифр специальности: 05.12.07
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 2006
• Место защиты: Москва
• Количество страниц: 225 с. : ил.

1 КРАТКИЙ АНАЛИЗ ПРЕДЕЛЬНЫХ ВОЗМОЖНОСТЕЙ

ЭЛЕКТРИЧЕСКОГО СКАНИРОВАНИЯ

12. ПОСТАНОВКА ЗАДАЧИ

12. ПРИНЦИПЫ ЭЛЕКТРИЧЕСКОГО СКАНИРОВАНИЯ В РЕШЕТКАХ

13. ПРИНЦИПЫ И ХАРАКТЕРНЫЕ ОСОБЕННОСТИ ФАЗОВОГО СКАНИРОВАНИЯ

1.4 . АНАЛИЗ ПРЕДЕЛЬНЫХ ВОЗМОЖНОСТЕЙ ЧАСТОТНОГО СКАНИРОВАНИЯ

1.4 2. ПРИНЦИПЫ И ХАРАКТЕРНЫЕ ОСОБЕННОСТИ ЧАСТОТНОГО СКАНИРОВАНИЯ

1.4 2. СПЕЦИФИКА ВЫБОРА КАНАЛИЗИРУЮЩЕЙ СИСТЕМЫ

1.4 3 . АНАЛИЗ ПРЕДЕЛЬНЫХ ВОЗМОЖНОСТЕЙ ЧАСТОТНОГО СКАНИРОВАНИЯ

ПРИМЕНИТЕЛЬНО К РЕБРИСТЫМ СТРУКТУРАМ

1.4.4. АНАЛИЗ ПРЕДЕЛЬНЫХ ВОЗМОЖНОСТЕЙ ЧАСТОТНОГО СКАНИРОВАНИЯ ПРИМЕНИТЕЛЬНО К ЩЕЛЕВЫМ ПРЯМОУГОЛЬНЫМ ПОЛЫМ ВОЛНОВОДАМ
1.4 5. АНАЛИЗ ПРЕДЕЛЬНЫХ ВОЗМОЖНОСТЕЙ ЧАСТОТНОГО СКАНИРОВАНИЯ ПРИМЕНИТЕЛЬНО К ЩЕЛЕВЫМ ПРЯМОУГОЛЬНЫМ ВОЛНОВОДАМ,ПОЛНОСТЬЮ ЗАПОЛНЕННЫМ ДИЭЛЕКТРИКОМ
1.4 £. АНАЛИЗ ПРЕДЕЛЬНЫХ ВОЗМОЖНОСТЕЙ ЧАСТОТНОГО СКАНИРОВАНИЯ ПРИМЕНИТЕЛЬНО К РАЗЛИЧНЫМ КОНФИГУРАЦИЯМ ЩЕЛЕВЫХ ПРЯМОУГОЛЬНЫХ ВОЛНОВОДОВ,ЧАСТИЧНО ЗАПОЛНЕННЫХ ДИЭЛЕКТРИКОМ
1.4 £ 2 .ЧАСТОТНОЕ СКАНИРОВАНИЕ ПРИМЕНИТЕЛЬНО К ВОЛНОВОДАМ С ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПЛАСТИНОЙ »РАСПОЛОЖЕННОЙ ПАРАЛЛЕЛЬНО УЗКИМ СТЕНКАМ В ПЛОСКОСТИ СИММЕТРИИ
1.4 £ 2 .ЧАСТОТНОЕ СКАНИРОВАНИЕ ПРИМЕНИТЕЛЬНО К ВОЛНОВОДАМ С ДВУМЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИМИ ПЛАСТИНАМИ »РАСПОЛОЖЕННЫМИ СИММЕТРИЧНО ОКОЛО УЗКИХ СТЕНОК
1.4 £ 3 .ЧАСТОТНОЕ СКАНИРОВАНИЕ ПРИМЕНИТЕЛЬНО К ВОЛНОВОДАМ С ОДНОЙ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПЛАСТИНОЙ ОКОЛО УЗКОЙ СТЕНКИ
1.4 .7. АНАЛИЗ ПРЕДЕЛЬНЫХ ВОЗМОЖНОСТЕЙ И СПЕЦИФИКА ЧАСТОТНОГО СКАНИРОВАНИЯ ПРИМЕНИТЕЛЬНО К ЗМЕЙКОВЫМ ВОЛНОВОДАМ
1.4 Б . СПЕЦИФИКА ЧАСТОТНОГО СКАНИРОВАНИЯ ПРИМЕНИТЕЛЬНО К ВОЛНОВОДАМ СЛОЖНЫХ СЕЧЕНИЙ
1.4 9. СПЕЦИФИКА ЧАСТОТНОГО СКАНИРОВАНИЯ ПРИМЕНИТЕЛЬНО К СЛАБО
ДИСПЕРСИОННЫМ И НЕДИСПЕРСИОННЫМ СТРУКТУРАМ
15. ВЫВОДЫ

2 АНАЛИЗ ПРЕДЕЛЬНЫХ ВОЗМОЖНОСТЕЙ НЕЛИНЕЙНОГО
СКАНИРОВАНИЯ ДЛЯ НЕДИСПЕРСИОННЫХ СТРУКТУР
22. ОСНОВНЫЕ ПРИНЦИПЫ НЕЛИНЕЙНОГО СКАНИРОВАНИЯ ДЛЯ
НЕДИСПЕРСИОННЫХ СТРУКТУР
2 2. ФИЗИЧЕСКИЕ И МАТЕМАТИЧЕСКИЕ МОДЕЛИ СХЕМ НЕЛИНЕЙНОГО СКАНИРОВАНИЯ ПРИ ПРОСТРАНСТВЕННОЙ ЗАПИТКЕ ЛИНЕЙКИ ИЗЛУЧАТЕЛЕЙ
2 3 . АНАЛИЗ ПРЕДЕЛЬНЫХ ВОЗМОЖНОСТЕЙ НЕЛИНЕЙНОГО СКАНИРОВАНИЯ ПРИ ПАРАЛЛЕЛЬНОЙ ЗАПИТКЕ ЛИНЕЙКИ ИЗЛУЧАТЕЛЕЙ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ ЛИНИЙ
ЗАДЕРЖКИ
2.4. АНАЛИЗ ПРЕДЕЛЬНЫХ ВОЗМОЖНОСТЕЙ И СПЕЦИФИКА НЕЛИНЕЙНОГО СКАНИРОВАНИЯ ПРИ ПОСЛЕДОВАТЕЛЬНОЙ ЗАПИТКЕ ЛИНЕЙКИ ИЗЛУЧАТЕЛЕЙ
25. ВЫВОДЫ
3 ПРИНЦИПЫ РАБОТЫ И АНАЛИЗ ПРЕДЕЛЬНЫХ ВОЗМОЖНОСТЕЙ НЕЛИНЕЙНОГО СКАНИРОВАНИЯ ДЛЯ ДИСПЕРСИОННЫХ СТРУКТУР
3 1. ОСНОВНЫЕ ПРИНЦИПЫ НЕЛИНЕЙНОГО СКАНИРОВАНИЯ ДЛЯ ДИСПЕРСИОННЫХ
СТРУКТУР
3 2 . АНАЛИЗ ПРЕДЕЛЬНЫХ ВОЗМОЖНОСТЕЙ НЕЛИНЕЙНОГО СКАНИРОВАНИЯ ДЛЯ РАЗЛИЧНЫХ КОНФИГУРАЦИЙ ВОЛНОВОДНО-ГЦЕЛЕВЫХ КОНСТРУКЦИЙ НА ОСНОВЕ
ПОЛОГО ПРЯМОУГОЛЬНОГО ВОЛНОВОДА
3 2 2. НЕЛИНЕЙНОЕ СКАНИРОВАНИЕ С СОХРАНЕНИЕМ РАЗНОСТНОЙ ЧАСТОТЫ
3 2 2. НЕЛИНЕЙНОЕ СКАНИРОВАНИЕ С СОХРАНЕНИЕМ СУММАРНОЙ ЧАСТОТЫ
3 3 . АНАЛИЗ ПРЕДЕЛЬНЫХ ВОЗМОЖНОСТЕЙ НЕЛИНЕЙНОГО СКАНИРОВАНИЯ ДЛЯ РАЗЛИЧНЫХ КОНФИГУРАЦИЙ ВОЛНОВОДНОЧЦЕЛЕВЫХ КОНСТРУКЦИЙ НА ОСНОВЕ ПРЯМОУГОЛЬНОГО ВОЛНОВОДА,ПОЛНОСТЬЮ ЗАПОЛНЕННОГО ДИЭЛЕКТРИКОМ
3.4 . АНАЛИЗ ПРЕДЕЛЬНЫХ ВОЗМОЖНОСТЕЙ НЕЛИНЕЙНОГО СКАНИРОВАНИЯ ДЛЯ РАЗЛИЧНЫХ КОНФИГУРАЦИЙ ВОЛНОВОДНО ЧЦЕЛЕВЫХ КОНСТРУКЦИЙ НА ОСНОВЕ ПРЯМОУГОЛЬНОГО ВОЛНОВОДА,ЧАСТИЧНО ЗАПОЛНЕННОГО ДИЭЛЕКТРИКОМ
3.4 2. НЕЛИНЕЙНОЕ СКАНИРОВАНИЕ ПРИМЕНИТЕЛЬНО К ПРЯМОУГОЛЬНОМУ ВОЛНОВОДУ С ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПЛАСТИНОЙ,РАСПОЛОЖЕННОЙ ПАРАЛЛЕЛЬНО
УЗКИМ СТЕНКАМ В ПЛОСКОСТИ СИММЕТРИИ
3 .4 2 . НЕЛИНЕЙНОЕ СКАНИРОВАНИЕ ПРИМЕНИТЕЛЬНО К ПРЯМОУГОЛЬНОМУ ВОЛНОВОДУ С ДВУМЯ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКИМИ ПЛАСТИНАМИ ВДОЛЬ УЗКИХ СТЕНОК
3.4 3 . НЕЛИНЕЙНОЕ СКАНИРОВАНИЕ ПРИМЕНИТЕЛЬНО К ПРЯМОУГОЛЬНОМУ ВОЛНОВОДУ С ОДНОЙ ДИЭЛЕКТРИЧЕСКОЙ ПЛАСТИНОЙ ОКОЛО УЗКОЙ СТЕНКИ

З 5. СПЕЦИФИКА НЕЛИНЕЙНОГО СКАНИРОВАНИЯ ПРИМЕНИТЕЛЬНО К ЗМЕЙКОВЫМ
ВОЛНОВОДАМ И ВОЛНОВОДАМ СЛОЖНЫХ СЕЧЕНИЙ
3 £. АНАЛИЗ ПРЕДЕЛЬНЫХ ВОЗМОЖНОСТЕЙ НЕЛИНЕЙНОГО СКАНИРОВАНИЯ
ПРИМЕНИТЕЛЬНО К РЕБРИСТЫМ СТРУКТУРАМ
3 .7. АНАЛИЗ ПРЕДЕЛЬНЫХ ВОЗМОЖНОСТЕЙ И СПЕЦИФИКА НЕЛИНЕЙНОГО СКАНИРОВАНИЯ ПРИ СМЕШАННОЙ ЗАПИТКЕ ЭКВИДИСТАНТНОЙ ЛИНЕЙКИ
ИЗЛУЧАТЕЛЕЙ
3.71. ВОЗМОЖНОСТИ НЕЛИНЕЙНОГО СКАНИРОВАНИЯ ПРИ ВОЛНОВОДНОКОАКСИАЛЬНОЙ ЗАПИТКЕ
3.7 2. ВОЗМОЖНОСТИ НЕЛИНЕЙНОГО СКАНИРОВАНИЯ ПРИ ВОЛНОВОДНОВОЛНОВОДНОЙ ЗАПИТКЕ
З 3 ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНЫЕ ИССЛЕДОВАНИЯ НЕЛИНЕЙНОГО СКАНИРОВАНИЯ.... 211 З 3 ПРАКТИЧЕСКАЯ РЕАЛИЗАЦИЯ НЕЛИНЕЙНОГО СКАНИРОВАНИЯ В ПРИЕМНЫХ
СИСТЕМАХ МЕТРОВОГО ДИАПАЗОНА
310 ВЫВОДЫ
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
ЛИТЕРАТУРА

Здесь 00 - проекция расстояния между первичными источниками АВ на линейку излучателей (в данном случае точка О совпадает с местоположением первого излучателя линейки).
Таким образом, с учетом вышенаписанного получим
2л (
II * <
л 271 А Ао — /.(V
с V
2 л г( Г
= с
ИТ. д.
7,{]ао2 +с!г - ло)- /2^1во'г + (00' -<1^ -4.во
,г +(Ю'2
<222)
В качестве разности фаз между соседними излучателями, использующейся для расчета угла отклонения луча от нормали, как и в предыдущих случаях, будем использовать А(рж. Тогда, учитывая, что Афос = М > получим
/,(VАОг+(12 -Ао)+ //1ВО'2 +(()()' -й) -^во'1 +00'2'
впер = т~г—ту ■ (2 23)
(/1
Нетрудно показать, что в случае, изображенном на рис. 2.4 б
2л /1 (у!ао2+с{2 -Ао)-/г^1во12+(аУ+йУ - Vво'2 +оо'2
А<рж
(2 24)
(2 25)
/^ао2+с12 -ао)-/2Пво,2+(оо'+с1У ~^во'2 +оо'2'
В таблицах 2.10 и 2.11 представлены результаты расчета секторов сканирования <рск, диапазонов изменения частот / и /, необходимых для их перекрытия (/">/), а также возможных длин I линеек излучателей и количества N излучателей в них для случаев, изображенных на рис. 2.7, а и 2.7,6 соответственно.
Таблица 2
АО, м во, м 00, м /, ГГц <7, м /»ГГц / /ГГц (р С К 1 /, м N
3 3 0,45 2 0,15 2,1 ..10 0,1...8 1,15...-25,94 02
2,1 ..15 0,1...13 1,15...-3821 02
32 3,5 0,45 2 0,15 2,1 ..10 0,1...8 0,98...-18,6 02
2,1 ..15 0,1...13 0,98...-32,12 02
3 3 0,6 2 0,15 2,1 ..10 0,1...8 1... -3427 02
2,1 ..15 0,1...13 1...-68,85 02