Измерительно-вычислительная система контроля качества магнитных изделий с помощью электронно-оптических муаровых эффектов

• Автор: Печагин, Евгений Александрович
• Шифр специальности: 05.11.16
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 2002
• Место защиты: Тамбов
• Количество страниц: 135 с. : ил

ОГЛАВЛЕНИЕ
ВВЕДЕНИЕ

1. ПРИБОРЫ И МЕТОДЫ ИЗМЕРЕНИЯ МАГНИТНЫХ ПОЛЕЙ

1Л. Методика контроля качества магнитных систем на производстве

1.2. Магнитометрические преобразователи

1.3. Электромагнитное моделирование

1.4. Использование силового взаимодействия магнитного поля с

движущимся электрическими зарядами

Выводы

2. ПРИМЕНЕНИЕ МЕТОДА МУАРОВЫХ ИЗОБРАЖЕНИЙ

ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ МАГНИТНЫХ ПОЛЕЙ СРЕДСТВАМИ ЭЛЕКТРОННОЙ МИКРОСКОПИИ

2.1. Основы получения муарового узора
2.2. Методика проведения экспериментов
2.3. Получение картины магнитного поля прямого проводника
с током
2.4. Обработка опытных результатов
Выводы
3. ИССЛЕДОВАНИЕ НЕОДНОРОДНЫХ МАГНИТНЫХ ПОЛЕЙ
3.1. Обработка опытных результатов по двухвитковой катушке
с током
3.2. Применение муаровой методики при контроле качества
магнитных систем на производстве
3.3. Сопоставление математической модели с результатами
эксперимента
Выводы
4. ИЗМЕРИТЕЛЬНО-ВЫЧИСЛИТЕЛЬНАЯ СИСТЕМА
КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА МАГНИТНЫХ СИСТЕМ
4.1. Структура измерительно-вычислительной системы
контроля качества магнитных систем
4.2. Аппаратные средства
4.3. Программное обеспечение
Выводы
5. МЕТРОЛОГИЧЕСКОЕ ОБОСНОВАНИЕ ИСПОЛЬЗОВАНИЯ
ИЗМЕРИТЕЛЬНО-ВЫЧИСЛИТЕЛЬНОЙ СИСТЕМЫ КОНТРОЛЯ КАЧЕСТВА МАГНИТНЫХ СИСТЕМ
5.1. Исследование влияния электрической составляющей электромагнитного поля рассеяния головки при
получении муара
5.2. Предварительная обработка экспериментальных данных
по магнитным головкам
5.3. Оценка погрешности средства измерения
5.4. Исследование вероятности брака контроля при использовании
измерительно-вычислительной системы 1
Выводы
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
БИБЛИОГРАФИЧЕСКИЙ СПИСОК
Приложение 1
Приложение 2
Приложение 3
ВВЕДЕНИЕ
Актуальность работы. Практически все современные электроэнергетические и электромеханические аппараты, значительное число устройств автоматики, измерительной и вычислительной техники построены на основе использования электромагнитных явлений и на применении магнитных материалов. Поэтому измерение параметров магнитных полей, а также исследование магнитных свойств материалов занимают значительное место в технике.
Производственный контроль магнитных изделий представляет собой многопараметрический, трудоёмкий процесс, зависящий от личных качеств оператора. При расчете и моделировании неоднородных магнитных полей малой протяженности часто не поддаются учету геометрические и физические особенности границ раздела. Например, при производственном контроле соответствия магнитных полей рассеяния серийно выпускаемых электротехнических изделий запроектированным стандартам не поддаются учету особенности, вызванные различной физико-химической предысторией систем, создающих эти поля. Это термообработка магнитопровода, способ обработки зазора полюсного наконечника, состояние материала и полировки рабочей поверхности составных ферритных изделий, которые существенно влияют на топологию магнитного поля рассеяния. Многочисленность подобных трудноучитываемых при моделировании полной картины магнитных полей факторов требует прямых методов исследования магнитных и электрических полей рассеяния малой протяженности. К данным методам можно отнести оптические, оптические теневые, электронно-оптические методы.
Использование средств электронной микроскопии в совокупности с цифровой фототехникой, сопряжённой с персональным компьютером (ПК), открывает широкие возможности по созданию измерительно-вычислительных систем (ИВС) для промышленности с целью автоматизации и повышения оперативности процесса разбраковки готовой продукции. Применение в ИВС методики электронно-оптических муаровых картин позволяет визуали-

Рис. 2.4. Электронно-оптическая схема наблюдения магнитного поля рассеяния, создаваемого линейным током рамки:
Р - рамка; С - сетка; Э - экран; Ф - Фокус