Разработка методов имитационного моделирования для определения погрешностей результатов измерений процессорных измерительных средств

• Автор: Павлович, Марина Иоковна
• Шифр специальности: 05.11.16
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 1985
• Место защиты: Ленинград
• Количество страниц: 205 c. : ил

Перечень основных сокращений
Перечень основных обозначений
В В Е Д Е Н И'Е
1. ПОГРЕШНОСТИ РЕЗУЛЬТАТОВ ИЗМЕРЕНИЙ ПРОЦЕССОРНЫХ.
ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ СРЕДСТВ
1.1. Уравнение измерений процессорных измерительных
средств. Классификация погрешностей
I 2. Погрешности аналоговых и аналого-цифровых
преобразований. Методы исследований
1.3. Погрешности цифровых преобразований. Методы исследований
1.4. Выводы по главе I
2. ИМИТАЦИОННОЕ МОДЕЛИРОВАНИЕ ПРОЦЕССОРНЫХ
ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ СРЕДСТВ
2.1. Методика №1 для определения методических погрешностей результатов измерений процессорных ИС
2.2. Моделирование реализаций оператора цифровых преобразований
2.3. Определение погрешностей измерений процессорных ИС по погрешностям их компонент. Робастное ИМ
2.4. Определение числа экспериментов при ИМ
2.5. Выводы по главе
3. ИССЛЕДОВАНИЕ МЕТОДИЧЕСКИХ ПОГРЕШНОСТЕЙ РЕЗУЛЬТАТОВ
ИЗМЕРЕНИЙ ЗНАЧЕНИЙ ОЦЕНОК ОДНОМЕРНОЙ ИНТЕГРАЛЬНОЙ
ФУНКЦИИ РАСПРЕДЕЛЕНИЯ ВЕРОЯТНОСТЕЙ
3.1. Методика №.1 для определения методических погрешностей результатов измерений значений оценок ВХ, проводимых процессорными ИС

3.2. Методика ИМ для исследования методических погрешностей результатов измерений значений оценок ФРВ
3.3. Погрешность от конечности выборки при измерении значений одномерной ШРВ
3.4. Погрешность квантования мгновенных значений случайного процесса при измерении значений оценок ФРВ
3.5. Погрешность реализации оператора С| при измерении значений оценок одномерной ФРВ
3.6. Методическая погрешность реализации усреднения при измерении значений оценок одномерной ФРВ
3.7. Выводы по главе
4. ИССЛЕДОВАНИЕ ХАРАКТЕРИСТИК ПОГРЕШОСТЕЙ РЕЗУЛЬТАТОВ
ИЗМЕРЕНИЙ ПАРАМЕТРОВ МОНОКРИСТАЛЛА ГЕРМАНИЯ, ПРОВОДИМЫХ ПРОЦЕССОРНЫМИ ИС
4.1. Постановка задачи определения характеристик погрешностей результатов измерений параметров монокристалла германия
4.2. Модель измерительного эксперимента для определения погрешностей результатов измерений параметров монокристалла германия
4.3. Планирование эксперимента для определения оценок характеристик погрешностей измерений параметров полупроводников методом ИМ
4.4. Определение верхних оценок характеристик погрешностей результатов измерений параметров полупроводников
4.5. Выводы по главе
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
ЛИТЕРАТУР А
ПРИЛОЖЕНИ Я

Перечень основных обозначений
X - вектор входных для ИС воздействий ц! - измеряемая физическая величина /1*- результат измерения величины у!
оператор аналоговых преобразований в процедуре измерении ^ - оператор аналого-цифровых преобразований в процедуре измерений оператор цифровых преобразований Д|1- абсолютная погрешность результата измерений - цена кванта АЦП ММ- математическое ожидание ад- дисперсия
МТ-]- статистическая оценка математического ожидания статистическая оценка дисперсии где- одномерная интегральная функция распределения вероятностей
Перечень основных сокращений
АЦП - аналого-цифровой преобразователь ВХ - вероятностная характеристика Ж - измерительный канал Ш - имитационное моделирование ИП - измерительный преобразователь ИС - измерительное средство МП - микропроцессор
П - перепрограммируемый, универсальный процессор СКО - среднеквадратическое отклонение СП - случайный процесс
ФРВ - одномерная интегральная функция распределения вероятностей ЭДС - электродвижущая сила

Рис.2.1. Алгоритм ИГЛ для определения погрешностей результата измерений.