Методы и средства интерферометрии высокого разрешения для обеспечения единства измерений геометрических параметров рельефа и шероховатости поверхности в нанометровом диапазоне
- Автор:
Золотаревский, Сергей Юрьевич
- Шифр специальности:
05.11.15
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2010
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
238 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Метрологическое обеспечение нейтронных измерений на высокопоточных исследовательских реакторах | Бойцов, Александр Алексеевич | 2000 |
| Разработка и исследование системы метрологического обеспечения измерений и учёта попутного нефтяного газа : на примере ОАО "Саратовнефтегаз" | Руденко, Валентина Александровна | 2014 |
| Исследование и планирование эффективных методик многопараметрического контроля и косвенных измерений | Данилевич, Сергей Борисович | 2001 |