Методы и средства интерферометрии высокого разрешения для обеспечения единства измерений геометрических параметров рельефа и шероховатости поверхности в нанометровом диапазоне
- Автор:
Золотаревский, Сергей Юрьевич
- Шифр специальности:
05.11.15
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2010
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
238 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Разработка стандартных образцов параметра кристаллической решетки для метрологического обеспечения дифрактометрии | Овчаров, Владимир Константинович | 2001 |
| Разработка и исследование методов и средств метрологического обслуживания крупногабаритных координатно-измерительных машин | Брянкин, Сергей Юрьевич | 2011 |
| Создание и исследование системы моделирующих опорных полей нейтронов на исследовательских ядерно-физических установках | Севастьянов, Василий Дементьевич | 2000 |