+
Действующая цена700 499 руб.
Товаров:
На сумму:

Электронная библиотека диссертаций

Доставка любой диссертации в формате PDF и WORD за 499 руб. на e-mail - 20 мин. 800 000 наименований диссертаций и авторефератов. Все авторефераты диссертаций - БЕСПЛАТНО

Расширенный поиск

Оптимизация планов контроля при статистическом управлении технологическими процессами резистивных структур узлов приборов

Оптимизация планов контроля при статистическом управлении технологическими процессами резистивных структур узлов приборов
  • Автор:

    Петров, Алексей Юрьевич

  • Шифр специальности:

    05.11.14

  • Научная степень:

    Кандидатская

  • Год защиты:

    2004

  • Место защиты:

    Санкт-Петербург

  • Количество страниц:

    155 с. : ил.

  • Стоимость:

    700 р.

    499 руб.

до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
"
2.1.1 Процесс получения поликремниевых резистивных слоев 
2.1.2 Процесс получения тонких резистивных пленок


1 ПРОБЛЕМА СТАТИСТИЧЕСКОГО УПРАВЛЕНИЯ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИМИ ПРОЦЕССАМИ ИЗГОТОВЛЕНИЯ МИКРОЭЛЕКТРОННЫХ УЗЛОВ ПРИБОРОВ
1.1 Статистическое управление технологическими процессами как средство управления качеством
1.2 Организационно-технические особенности технологических операций изготовления микроэлектронных узлов
1.3 Анализ современного состояния проблемы статистического управления технологическими процессами изготовления микроэлектронных узлов

Выводы по главе


2 ВЕРОЯТНОСТНО-ВРЕМЕННЫЕ МОДЕЛИ ТИПОВЫХ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ПРОЦЕССОВ ИЗГОТОВЛЕНИЯ РЕЗИСТИВНЫХ СТРУКТУР
2.1 Организационно-технические особенности статистического управления типовыми технологическими процессами

2.1.1 Процесс получения поликремниевых резистивных слоев

2.1.2 Процесс получения тонких резистивных пленок

2.1.3 Процесс формирования толстопленочных резисторов

2.2 Статистический анализ типовых технологических процессов


2.2.1 Задачи статистического анализа
2.2.2 Методы статистического анализа
2.2.3 Статистический анализ процесса получения поликремниевых резистивных слоев
2.2.4 Статистический анализ процесса получения тонких резистивных пленок
2.2.5 Статистический анализ процесса формирования толстопленочных резисторов

,12

,34

2.3 Вероятностно-временные модели типовых технологических
процессов изготовления резистивных структур
Выводы по главе
3 РАСЧЕТ ХАРАКТЕРИСТИК ПЛАНА КОНТРОЛЯ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ПРОЦЕССОВ ПО КРИТЕРИЮ УРОВНЯ БРАКА
3.1 Критерий эффективности статистического управления технологическим процессом по уровню брака за период между регулировками
3.2 Расчет характеристик плана контроля технологических процессов
при использовании контрольных карт выборочных средних значений
3.2.1 Расчет характеристик плана контроля на основе традиционной вероятностно-временной модели процессов
3.2.2 Расчет характеристик плана контроля на основе предложенных вероятностно-временных моделей процессов
Выводы по главе
4 РАСЧЕТ ХАРАКТЕРИСТИК ПЛАНА КОНТРОЛЯ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ПРОЦЕССОВ ПО КРИТЕРИЮ СТОИМОСТНЫХ ЗАТРАТ
4.1 Основные задачи расчета характеристик плана контроля технологических процессов по критерию стоимостных затрат
4.2 Расчет стоимостных затрат, связанных со статистическим управлением
4.3 Расчет характеристик плана контроля технологических процессов
при использовании контрольных карт выборочных средних значений
4.3.1 Расчет оптимальных характеристик плана контроля на основе предложенных вероятностно-временных моделей процессов
4.3.2 Анализ влияния технико-экономических параметров процессов на стоимостный выигрыш от оптимизации характеристик плана контроля
4.3.3 Расчет квазиоптимальных характеристик плана контроля
при случайном характере разладок процессов
Выводы по главе

5 СТАТИСТИЧЕСКОЕ УПРАВЛЕНИЕ ТИПОВЫМИ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИМИ ПРОЦЕССАМИ ИЗГОТОВЛЕНИЯ РЕЗИСТИВНЫХ СТРУКТУР
5.1 Экспериментальная оценка средних длин серий выборок при статистическом управлении процессами с предложенными вероятностновременными моделями
5.2 Статистическое управление технологическим процессом получения поликремниевых резистивных слоев
5.3 Статистическое управление технологическим процессом получения тонких резистивных пленок
5.4 Статистическое управление технологическим процессом формирования толстопленочных резисторов
Выводы по главе
Заключение
Список литературы
Приложение А
Приложение Б
Приложение В
Приложение Г

Продолжение таблицы 2
Номинальное Номер Теоретическое А Аф при п - и-* п ■ \>1 кр при
значение сопротивления Я „ом, партии распределение а=0,05 а=0,05
кОм
47 Нормальное 0,12 0.3 0.08 0
Равномерное 0,21 0.3
5 Нормальное 0,10 0.05
Равномерное 0,10 0.06
1 1 Нормальное 0,12 0,08
Равномерное 0,25 0.30
2 Нормальное 0,09 0,04
Равномерное 0.14 0.09
3 Нормальное 0,12 0,3 0.06 0,46
Равномерное 0.34 0.74
4 Нормальное 0,10 0,05
Равномерное 0,27 0.40
5 Нормальное 0,16 0.11
Равномерное 0,38 0,60
5,1 1 Нормальное 0,07 0,03
Равномерное 0,15 0,18
2 Нормальное 0,10 0,04
Равномерное 0,31 0.63
Нормальное 0,10 0,3 0.07 0,46
Равномерное 0,31 0,51
4 Нормальное 0,10 0.04
Равномерное 0,24 0.43
5 Нормальное 0,09 0.04
Равномерное 0,17 0.11
Выводы: распределения КП во всех рассматриваемых партиях сходятся с нормальным законом распределения; гипотеза о равномерном распределении КП отвергается в 6 из 15 рассматриваемых партий, для остальных партий гипотеза принимается при меньшей вероятности альтернативной гипотезы /?.
2. Результаты проверки гипотезы о нормальном распределении КП в партиях по совокупности малых выборок. Расчеты проведены по формулам (2.6), (2.7).
Для Дном =47 кОм:
Dn= 0,17 <йКр= 0,31 - гипотеза принимается приа=0,05; п • н4 = 0,11 < п-мгп кр= 0,46 - гипотеза принимается при а=0,05.
Для Л„ом = 1 кОм:
Dn= 0,14 < £>кр= 0,41 - гипотеза принимается при а=0,05; п • и4 = 0.09 < п ■ кр= 0,46 - гипотеза принимается при а=0,05.

Рекомендуемые диссертации данного раздела

Время генерации: 0.133, запросов: 967