Компенсация погрешностей оптико-электронной системы автоматизированного контроля геометрических параметров объектов
- Автор:
Абакумов, Игорь Игоревич
- Шифр специальности:
05.11.13
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2014
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
132 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Математические модели, программно-аппаратные и технологические средства для контроля и классификации изображений наноструктур в туннельном микроскопе | Липанов, Святослав Иванович | 2017 |
| Методы экспрессной обработки результатов относительной двухволновой рентгеновской рефлектометрии для контроля многослойных структур микро- и наноэлектроники | Карташов, Дмитрий Александрович | 2013 |
| Разработка и исследование интеллектуального цифрового туннельного микроскопа для изучения кластерных материалов | Гудцов, Денис Вячеславович | 2006 |