Разработка установки для определения главных напряжений с повышенным пространственным разрешением в плоских прозрачных изделиях

• Автор: Киселёв, Михаил Михайлович
• Шифр специальности: 05.11.13
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 2010
• Место защиты: Ижевск
• Количество страниц: 137 с. : ил.

СОДЕРЖАНИЕ
ВВЕДЕНИЕ
ГЛАВА 1. МЕТОДЫ ИЗУЧЕНИЯ НАПРЯЖЕННО-ДЕФОРМИРОВАННОГО СОСТОЯНИЯ В ПЛОСКИХ ПРОЗРАЧНЫХ
ИЗДЕЛИЯХ (ОБЗОР)
1Л. Поляризационно оптический метод
1.1.1. Оптика полярископа
1.1.2. Оптика кругового полярископа. Темное поле полярископа
1.1.3. Разделение главных напряжений
1.1.4. Метод Файлона
1.1.5 Метод конечных разностей
1.2. Разделение напряжений с использованием данных экспериментальных методов
1.2.1 Интерферометрические методы определения поперечных деформаций
1.2.2 Измерение поперечных перемещений точек поверхности модели
1.2.3.Интерферометр Поста
1.2.4. Измерение абсолютных разностей хода
1.3. Голографические методы определение деформаций
1.4. Голографические методы фотоупругости
1.5. Электронная цифровая корреляционная спекл-интерферометрия
1.6. Хрупкие покрытия
1.7. Тензометры
1.8. Метод муаровых полос

1.9. Измерение поперечных деформаций механическим способом
Выводы к главе
ГЛАВА 2. РАЗРАБОТКА ОПТИЧЕСКОЙ СХЕМЫ КОМБИНИРОВАННОГО ОПТИКО-МЕХАНИЧЕСКОГО ПРИБОРА И МЕТОДОВ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ГЛАВНЫХ НАПРЯЖЕНИЙ В ПЛОСКИХ ПРОЗРАЧНЫХ ИЗДЕЛИЯХ
2.1. Исследование оптических схем интерферометров
2.1.1. Устройства на основе интерферометра Майкелъсона
2.2. Оптическая схема комбинированного оптико-механического прибора (КОМП)
2.3. Вывод расчетных формул главных нормальных напряжений
2.4. Методика измерений
2.5. Определение направлений нормальных напряжений
2.6. Пространственная разрешающая способность КОМП
2.7. Обоснование оптимальной фокусировки луча лазера на модель
2.8. Определение погрешностей измерений
Выводы к главе
ГЛАВА 3. КОНСТРУКЦИЯ УСТАНОВКИ И ЕЕ КОМПОНЕНТОВ
3.1. Конструкция установки
3.2. Исследование оптико-механических свойств орг. стекла (ОС)..
3.2.1 Механическая и оптическая ползучесть ОС
3.2.2. Определение модуля упругости ОС
3.2.3. Определение коэффициента пропускания света ОС
3.3. Определение оптимального режима работы
полупроводникового лазера
3.4. Доработка лазерного модуля
3.5. Доработка видеокамеры
Выводы к главе
ГЛАВА 4. ПРМЕНЕНИЕ РАЗРАБОТАННОЙ УСТАНОВКИ ДЛЯ ИССЛЕДОВАНИЯ И КОНТРОЛЯ НАПРЯЖЕННО-ДЕФОРМИРОВАННОГО СОСТОЯНИЯ В ПЛОСКИХ ПРОЗРАЧНЫХ ОБРАЗЦАХ ИЗДЕЛИЙ
4.1. Снятие тарировочной кривой для центра диска и определения
констант
4.2. Определение линейности зависимости суммы главных
напряжений от нагрузки
4.3. Взаимодействие цилиндрического индентора с упругой
полосой
4.4. Взаимодействие жесткого штампа с упругой полубесконечной
полосой
4.5. Модель взаимодействия хвостовика молотового штампа и клина
4.6. Взаимодействие жесткого штампа с упругой полуплоскостью..
4.7. Измерение напряжений в модели вблизи малого отверстия
4.8. Измерение напряжений вблизи тонкого разреза
Выводы к главе
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
ЛИТЕРАТУРА
ПРИЛОЖЕНИЯ

счета фазовых циклов 2жМ, где N— целое число циклов и дробных долей полос интерференции (в диапазоне 0...2тг) так называемых углов фазового сдвига, нормируемых в долях или единицах длины волны стабилизированного одночастотного Не-Ые-лазера. Базовое программное обеспечение, установленное на приборе, позволяет в режиме диалога осуществлять сбор измеряемых данных, их обработку и представление в виде, удобном для пользования.
Рис. 1.18. Структурная схема измерителя сверхмалых перемещений:
1 — стабилизированный Не—Ne-лазер; 2, 3 — группа акустооптических модуляторов; 4 — интерферометр двухчастотный; 5 — фотоприемное устройство; 6 -— система приема и предварительной обработки информации; 7 — смеситель частот; 8, 9 — блок высокочастотных генераторов; 10 — персональный компьютер; 11 — принтер
1.3. Голографический метод определения деформаций
Голография представляет собой метод записи и восстановления световых волн [22, 33, 35, 36, 37, 41, 62, 81, 82, 87, 104, 116, 120]. Если на одной фотопластинке получить голограммы трехмерного диффузно-отражающего объекта до и после его нагружения, а затем сравнить копии этих состояний объекта, то несовмещение изображений приведет к появлению некоторой интерференционной картины.