Методы компьютерной обработки при измерении параметров резистивных СВЧ структур
- Автор:
Беднов, Антон Владимирович
- Шифр специальности:
05.11.13
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2007
- Место защиты:
Нижний Новгород
- Количество страниц:
97 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Система оптического спектрального контроля с высокопорядковой дифракционной решеткой | Казаков, Василий Иванович | 2019 |
| Определение параметров моделей СВЧ транзисторов по результатам измерений | Белова, Юлия Васильевна | 2010 |
| Контроль планетарной статистики вариаций критической частоты области F2 ионосферы с помощью мировой сети автоматических ионосферных станций | Кузнецов, Владимир Александрович | 2005 |