Доставка любой диссертации в формате PDF и WORD за 499 руб. на e-mail - 20 мин. 800 000 наименований диссертаций и авторефератов. Все авторефераты диссертаций - БЕСПЛАТНО
Поляков, Евгений Владиславович
05.11.13
Кандидатская
2005
Тамбов
114 с. : ил.
Стоимость:
499 руб.
1. ОБЗОР И АНАЛИЗ ПРОБЛЕМЫ РЕГИСТРАЦИИ ИНФРАКРАСНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПЕРВИЧНЫХ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЕЙ
1.1 Общая характеристика проблемы регистрации
инфракрасного излучения
1.2 Краткий анализ материалов и устройств на их основе, использующихся для измерений в инфракрасной области и характеристика их свойств
1.3 Постановка задачи исследования и пути её решения
1.4 Выводы
2. ТЕОРЕТИКО-МЕТОДОЛОГИЧЕСКАЯ ОСНОВА ИЗУЧЕНИЯ МЕХАНИЗМА ФОРМИРОВАНИЯ ПРОВОДИМОСТИ В МНОГОКОМПОНЕНТНЫХ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ МАТЕРИАЛАХ
2.1 Современные представления об узкозонных полупроводниках. Общая картина зонной структуры
2.2 Влияние легирования на строение кристаллической решётки полупроводников КРТ и СОТ
2.3 О механизме проводимости халькогенидов
2.4 Выводы
3. РАЗРАБОТКА ПЕРВИЧНОГО ИЗМЕРИТЕЛЬНОГО ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЯ ИК-ИЗЛУЧЕНИЯ НА ОСНОВЕ СПЛАВА Са,.х8пхБ
3.1 Разработка методики получения сплава С<11.х8пх8 и
изучение его свойств
3.2 Разработка методики синтеза сульфидов олова и кадмия
3.3 Разработка методики синтеза сплава Сс1х8п1.х8
3.4 Разработка методики получения тонких плёнок Сс^.хЬпхБ
3.5 Определение удельного электросопротивления тонкоплёночного С(11.х8пх5
3.6 Исследование влияния легирования сплава Сй^шЬ на энергию активации тонких плёнок на его основе
3.7 Вывод математической модели электрофизических процессов в одноэлементном ПИП ИК-излучения на основе Сб^шЗ
3.8 Разработка конструкции первичного измерительного преобразователя широкого диапазона принимаемого излучения на основе сплава Сс^ЬшЬ
3.9 Выводы
4 РАЗРАБОТКА МИКРОПРОЦЕССОРНОЙ СИСТЕМЫ КОНТРОЛЯ СПЕКТРАЛЬНОЙ ПЛОТНОСТИ ИНФРАКРАСНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ ПИП НА ОСНОВЕ Сс^п^
4.1 Определение основных характеристик ПИП
4.2 Выбор источника излучения для градуировки ПИП
4.3 Определение спектрального распределения чувствительности ПИП на основе сплава Сй^шЬ
4.4 Влияние ИК излучения на величину фототока тонкоплёночного Сйо^Бпо^бБ
4.5 Структурная схема микропроцессорной системы и алгоритм ее работы
4.6 Проверка адекватности математической модели электрофизическим процессам, протекающим в детекторе излучения
4.7 Анализ погрешностей результатов измерения
4.8 Анализ методической погрешности косвенных измерений
4.9 Выводы
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
СПИСОК ИСПОЛЬЗУЕМОЙ ЛИТЕРАТУРЫ
ПРИЛОЖЕНИЯ
Название работы | Автор | Дата защиты |
---|---|---|
Методика оценки и повышения метрологической надежности при проектировании и эксплуатации средств неразрушающего контроля теплофизических свойств материалов | Селезнев, Андрей Владимирович | 2000 |
Использование параметров электромагнитно-акустического преобразования для определения упругих характеристик в анизотропных и изотропных ферромагнитных сталях | Соломеин, Максим Николаевич | 2006 |
Алгоритмы реализации виртуальных эталонов в приборах спектрального анализа материалов | Слептерев, Виталий Александрович | 2014 |