Разработка первичного измерительного преобразователя для определения спектральной плотности инфракрасного излучения в методах неразрушающего контроля изделий

• Автор: Поляков, Евгений Владиславович
• Шифр специальности: 05.11.13
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 2005
• Место защиты: Тамбов
• Количество страниц: 114 с. : ил.

1. ОБЗОР И АНАЛИЗ ПРОБЛЕМЫ РЕГИСТРАЦИИ ИНФРАКРАСНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ ПЕРВИЧНЫХ ИЗМЕРИТЕЛЬНЫХ ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЕЙ

1.1 Общая характеристика проблемы регистрации

инфракрасного излучения

1.2 Краткий анализ материалов и устройств на их основе, использующихся для измерений в инфракрасной области и характеристика их свойств

1.3 Постановка задачи исследования и пути её решения

1.4 Выводы
2. ТЕОРЕТИКО-МЕТОДОЛОГИЧЕСКАЯ ОСНОВА ИЗУЧЕНИЯ МЕХАНИЗМА ФОРМИРОВАНИЯ ПРОВОДИМОСТИ В МНОГОКОМПОНЕНТНЫХ ПОЛУПРОВОДНИКОВЫХ МАТЕРИАЛАХ
2.1 Современные представления об узкозонных полупроводниках. Общая картина зонной структуры
2.2 Влияние легирования на строение кристаллической решётки полупроводников КРТ и СОТ

2.3 О механизме проводимости халькогенидов

2.4 Выводы
3. РАЗРАБОТКА ПЕРВИЧНОГО ИЗМЕРИТЕЛЬНОГО ПРЕОБРАЗОВАТЕЛЯ ИК-ИЗЛУЧЕНИЯ НА ОСНОВЕ СПЛАВА Са,.х8пхБ
3.1 Разработка методики получения сплава С<11.х8пх8 и
изучение его свойств
3.2 Разработка методики синтеза сульфидов олова и кадмия
3.3 Разработка методики синтеза сплава Сс1х8п1.х8
3.4 Разработка методики получения тонких плёнок Сс^.хЬпхБ
3.5 Определение удельного электросопротивления тонкоплёночного С(11.х8пх5
3.6 Исследование влияния легирования сплава Сй^шЬ на энергию активации тонких плёнок на его основе
3.7 Вывод математической модели электрофизических процессов в одноэлементном ПИП ИК-излучения на основе Сб^шЗ
3.8 Разработка конструкции первичного измерительного преобразователя широкого диапазона принимаемого излучения на основе сплава Сс^ЬшЬ
3.9 Выводы
4 РАЗРАБОТКА МИКРОПРОЦЕССОРНОЙ СИСТЕМЫ КОНТРОЛЯ СПЕКТРАЛЬНОЙ ПЛОТНОСТИ ИНФРАКРАСНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ С ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ ПИП НА ОСНОВЕ Сс^п^
4.1 Определение основных характеристик ПИП
4.2 Выбор источника излучения для градуировки ПИП
4.3 Определение спектрального распределения чувствительности ПИП на основе сплава Сй^шЬ
4.4 Влияние ИК излучения на величину фототока тонкоплёночного Сйо^Бпо^бБ
4.5 Структурная схема микропроцессорной системы и алгоритм ее работы
4.6 Проверка адекватности математической модели электрофизическим процессам, протекающим в детекторе излучения
4.7 Анализ погрешностей результатов измерения
4.8 Анализ методической погрешности косвенных измерений
4.9 Выводы

ЗАКЛЮЧЕНИЕ
СПИСОК ИСПОЛЬЗУЕМОЙ ЛИТЕРАТУРЫ
ПРИЛОЖЕНИЯ