Методы экспрессной обработки результатов относительной двухволновой рентгеновской рефлектометрии для контроля многослойных структур микро- и наноэлектроники
- Автор:
Карташов, Дмитрий Александрович
- Шифр специальности:
05.11.13
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2013
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
129 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Разработка методов акустического контроля прутков из инструментальной стали | Лебедева, Татьяна Николаевна | 2004 |
| Повышение точности количественных оценок поверхностных дефектов и структур металлов по их цифровым изображениям в оптическом неразрушающем контроле | Филинов, Михаил Владимирович | 2007 |
| Фотоэлектронный способ и прибор для регистрации коронных разрядов на высоковольтном электрооборудовании | Лизунов, Игорь Николаевич | 2011 |