Методы экспрессной обработки результатов относительной двухволновой рентгеновской рефлектометрии для контроля многослойных структур микро- и наноэлектроники
- Автор:
Карташов, Дмитрий Александрович
- Шифр специальности:
05.11.13
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2013
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
129 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Методы экспрессной обработки результатов относительной двухволновой рентгеновской рефлектометрии для контроля многослойных структур микро- и наноэлектроники», автор — Карташов, Дмитрий Александрович, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 05.11.13. Работа подготовлена в городе Москва в 2013 году. Объем работы: 129 с. : ил.. Внутренний код товара: 01007519519. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Автоматическая обработка сигналов универсальных аналитических приборов в присутствии помех | Туленбаев, Мурат Сауранбаевич | 1983 |
| Помехоустойчивые методы и средства контроля параметров полей в системах технологического и экологического мониторинга | Беляев, Юрий Иванович | 2001 |
| Идентификационные технологии контроля состояния объектов : методы, модели, устройства | Кобенко, Вадим Юрьевич | 2018 |