Методы экспрессной обработки результатов относительной двухволновой рентгеновской рефлектометрии для контроля многослойных структур микро- и наноэлектроники
- Автор:
Карташов, Дмитрий Александрович
- Шифр специальности:
05.11.13
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2013
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
129 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Методы экспрессной обработки результатов относительной двухволновой рентгеновской рефлектометрии для контроля многослойных структур микро- и наноэлектроники», автор — Карташов, Дмитрий Александрович, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 05.11.13. Работа подготовлена в городе Москва в 2013 году. Объем работы: 129 с. : ил.. Внутренний код товара: 01007519519. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Однопроводная цифровая информационно-измерительная система контроля микроклимата | Воркунов, Олег Владимирович | 2006 |
| Разработка первичного измерительного преобразователя для определения спектральной плотности инфракрасного излучения в методах неразрушающего контроля изделий | Поляков, Евгений Владиславович | 2005 |
| Метод контроля микроклимата на основе обработки результатов совокупных измерений | Тырышкин, Сергей Юрьевич | 2006 |