Методы экспрессной обработки результатов относительной двухволновой рентгеновской рефлектометрии для контроля многослойных структур микро- и наноэлектроники
- Автор:
Карташов, Дмитрий Александрович
- Шифр специальности:
05.11.13
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2013
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
129 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Разработка информационного обеспечения и исследование фазовой компоненты электромагнитной волны для контроля и диагностирования свойств объектов | Никонов, Василий Александрович | 2012 |
| Разработка метода контроля вин с применением многопараметровой и мультикорреляционной техники анализа | Мальцева, Ольга Ивановна | 2006 |
| Мониторинг оптическим и акустическим методами состояния армированных полимерных и металлических материалов при усталостном разрушении | Еремин, Александр Вячеславович | 2018 |