Доставка любой диссертации в формате PDF и WORD за 499 руб. на e-mail - 20 мин. 800 000 наименований диссертаций и авторефератов. Все авторефераты диссертаций - БЕСПЛАТНО
Филенков, Виктор Валерьевич
05.11.13
Кандидатская
2004
Омск
134 с. : ил.
Стоимость:
250 руб.
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Электрофизические основы контроля изображений наноструктуры поверхности в сканирующем туннельном микроскопе для изучения кластерных материалов | Тюриков, Александр Валерьевич | 2004 |
| Повышение термостабильности оптико-электронных приборов фотометрического и бесконтактного теплового контроля | Шкаев, Александр Геннадьевич | 2002 |
| Повышение эффективности вибродиагностики с использованием пьезоэлектрических и вихретоковых преобразователей | Кирпичев, Александр Александрович | 2006 |