Развитие методов зондовой микроскопии для исследования и контроля поверхностей материалов и изделий микроэлектроники
- Автор:
Лосев, Виталий Викторович
- Шифр специальности:
05.11.13
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2002
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
174 с. : ил
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Разработка ИК-радиометрического комплекса, обеспечивающего дистанционный контроль и исследование облаков и прозрачности атмосферы | Величко, Александр Павлович | 2006 |
| Методы и аппаратура экспресс-диагностики объектов и динамических процессов | Аксенов, Игорь Борисович | 2005 |
| Десорбционно-термокондуктометрический метод измерения концентрации воздуха в трансформаторном масле | Воронова, Тамара Сергеевна | 2002 |