Микроволновой метод и устройство для контроля толщины магнитодиэлектрических покрытий
- Автор:
Карев, Дмитрий Виталиевич
- Шифр специальности:
05.11.13
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2004
- Место защиты:
Тамбов
- Количество страниц:
161 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Лазерный монитор для неразрушающего контроля изделий и визуализации быстропротекающих процессов в условиях фоновой засветки | Тригуб, Максим Викторович | 2013 |
| Тепловые методы и системы измерения расхода газожидкостных потоков веществ | Булкин, Дмитрий Дмитриевич | 2009 |
| Повышение точности измерения теплофизических свойств теплоизоляционных материалов с применением метода плоского импульсного источника теплоты | Буланов, Евгений Владимирович | 2019 |