Оценка и повышение метрологической надежности при проектировании средств неразрушающего контроля с учетом температурных режимов их эксплуатации

• Автор: Игнатов, Дмитрий Вячеславович
• Шифр специальности: 05.11.13
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 2005
• Место защиты: Тамбов
• Количество страниц: 155 с. : ил.

1. АНАЛИЗ ПРОБЛЕМЫ ОЦЕНКИ И ПОВЫШЕНИЯ МЕТРОЛОГИЧЕСКОЙ НАДЕЖНОСТИ. ПОСТАНОВКА ЗАДАЧИ

ИССЛЕДОВАНИЯ

1.1 Общая характеристика проблемы метрологической надежности и ее состояния

1.2 Краткий обзор и анализ известных путей решения задач оценки и повышения метрологической надежности средств измерений
1.2.1 Методы оценки и прогнозирования состояния метрологических характеристик средств измерений

1.2.2 Методы повышения метрологической надежности средств измерений

1.3 Постановка задачи оценки и повышения метрологической надежности СНК ТФС материалов и выявление наиболее перспективных путей ее решения
Выводы
2. ОСНОВРГЫЕ ПОЛОЖЕНИЯ МЕТОДОВ ОЦЕНКИ И ПОВЫШЕНИЯ МЕТРОЛОГИЧЕСКОЙ НАДЕЖНОСТИ СНК ТФС С УЧЁТОМ

ТЕМПЕРАТУРНЫХ РЕЖИМОВ ЭКСПЛУАТАЦИИ

2.1 Оценка метрологической надёжности аналоговых блоков СНК ТФС с

учётом температурного режима эксплуатации
2.1.1. Построение математической модели метрологической характеристики аналогового блока
2.1.2. Моделирование значений метрологической характеристики в различных временных сечениях области контроля
2.1.3. Построение математической модели изменения во времени метрологической характеристики
2.1.4. Оценка величины метрологического ресурса аналоговых блоков измерительного канала СНК ТФС
2.2 Повышение метрологического ресурса СНК ТФС с учётом
температурно-временной стабильности элементной базы
2.2.1. Анализ способов повышения метрологического ресурса СНК ТФС
2.2.2. Метод повышения метрологической надёжности СНК ТФС с учётом температурного режима эксплуатации
Выводы
3. ОБОБЩЁННАЯ МЕТОДИКА ОЦЕНКИ, ПРОГНОЗИРОВАНИЯ И ПОВЫШЕНИЯ МЕТРОЛОГИЧЕСКОЙ НАДЁЖНОСТИ СНК ТФС С УЧЁТОМ ТЕМПЕРАТУРНЫХ РЕЖИМОВ ИХ
ЭКСПЛУАТАЦИИ
3.1 Общие положения
3.2 Оценка и прогнозирование состояния метрологических характеристик аналоговых блоков СНК ТФС
3.3 Повышение метрологического ресурса проектируемых
СНК ТФС
Выводы
4. ПОВЫШЕНИЕ МЕТРОЛОГИЧЕСКОЙ НАДЕЖНОСТИ СНК ТФС МАТЕРИАЛОВ И ИЗДЕЛИЙ НА ЭТАПЕ ИХ ПРОЕКТИРОВАНИЯ С
ИСПОЛЬЗОВАНИЕМ РАЗРАБОТАННОЙ МЕТОДИКИ
4.1 Оценка, прогнозирование и повышение метрологического ресурса
аналоговых блоков измерительных каналов СНК ТФС материалов и изделий, реализующих контактные методы измерений
4.1.1. Оценка, прогнозирование и повышение метрологического ресурса
усилителя сигнала термопары с компенсацией напряжения
опорного спая
4.1.2. Оценка, прогнозирование и повышение метрологического ресурса нормирующего преобразователя
4.2 Оценка, прогнозирование и повышение метрологического ресурса аналоговых блоков измерительных каналов СНТС ТФС материалов и изделий, реализующих бесконтактные методы измерений
4.3 Проверка гипотезы о нормальном законе распределения метрологической характеристики
Выводы
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
СПИСОК ИСПОЛЬЗУЕМЫХ ИСТОЧНИКОВ
ПРИЛОЖЕНИЯ
Приложение А Текст программы статистического моделирования реализаций
метрологической характеристики
Приложение Б Экспериментальные данные
Приложение В Результаты проверки гипотезы о нормальном законе распределения реализаций метрологической
характеристики
Приложение Г Материалы по внедрению

Начало
Цикл
по числу- слагаемых
Моделирование пс евдослуч айных чисел її
Расчёт величины ц ц = а+г{Ь—а)
Суммирование ц §о = §о+А<
Конец цикла
но числу слагаемых
' А
Конец
Рис. 2.2 Элемент "А" блок-схемы алгоритма статистического моделирования реализаций метрологической характеристики на области контроля (рис. 2.1)
возможно получение только псевдослучайных чисел программными средствами. Обычно получение псевдослучайных чисел с заранее определённым законом распределения производится в два этана: моделирование равномерно распределённых псевдослучайных чисел и последующее преобразование закона распределения. В данном случае число этапов фактически равняется трём:
• моделирование псевдослучайных чисел //, равномерно распределённых на отрезке [0; I] (блок 1 на рис. 2.2);
• получение из них псевдослучайных величин /;, равномерно распределённых на отрезке [ог, Ь] (блок 2 на рис. 2.2);