Оптимизация методов контроля основных параметров комплементарных МОП интегральных схем в процессе производства
- Автор:
Барсов, Василий Сергеевич
- Шифр специальности:
05.11.13
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2001
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
154 с.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Разработка электронных средств обработки информации для рентгеноспектральных приборов контроля состава веществ | Горностаев, Владимир Евгеньевич | 2000 |
| Исследование характеристик качества изображения газоразрядного преобразователя рентгеновского излучения в видимое в импульсной интроскопической системе | Силантьев, Олег Игоревич | 2007 |
| Влияние упругой деформации на напряженность магнитного поля рассеяния локально намагниченных трубных сталей | Дягилев, Валерий Федорович | 2003 |