Оптимизация методов контроля основных параметров комплементарных МОП интегральных схем в процессе производства
- Автор:
Барсов, Василий Сергеевич
- Шифр специальности:
05.11.13
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2001
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
154 с.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Разработка методов получения, контроля и применения плазмы с заданными характеристиками в больших вакуумных объемах | Стриковский, Аскольд Витальевич | 2002 |
| Разработка когерентных методов и средств ультразвуковой дефектометрии металлов | Бадалян, Владимир Григорьевич | 2006 |
| Разработка методов и средств контроля тканых материалов, модифицированных металлическими и углеродными наноструктурированными пленками | Суханов, Валерий Николаевич | 2009 |