Оптико-электронная диагностика структуры монокристаллических полупроводников с применением вейвлет-анализа
- Автор:
Белехов, Ярослав Сергеевич
- Шифр специальности:
05.11.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2007
- Место защиты:
Великий Новгород
- Количество страниц:
302 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Двухфотонный спектрометр-микроскоп на основе фемтосекундного твердотельного лазера | Семин, Сергей Владимирович | 2012 |
| Формирование и анализ параметров когерентных световых полей методами цифровой голографии для бесконтактного контроля объектов | Гендин, Владислав Геннадьевич | 2013 |