Оптико-электронная диагностика структуры монокристаллических полупроводников с применением вейвлет-анализа
- Автор:
Белехов, Ярослав Сергеевич
- Шифр специальности:
05.11.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2007
- Место защиты:
Великий Новгород
- Количество страниц:
302 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Анализ параметров двумерных картин интерференционных полос на основе нелинейной адаптивной фильтрации | Волков, Михаил Владимирович | 2009 |
| Автоматизированная система формообразования асферических крупногабаритных оптических деталей | Абдулкадыров, Магомед Абдуразакович | 2008 |
| Гибридные электронно-оптические устройства и системы преобразования динамических изображений для ввода в ЭВМ | Симонов, Валентин Павлович | 2002 |