Эллипсометрические и спектрофотометрические методы исследования и контроля оптических характеристик поверхностных слоев элементов оптотехники
- Автор:
Данилова, Татьяна Михайловна
- Шифр специальности:
05.11.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2011
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
159 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Помехоустойчивые интерферометрические системы контроля объектов на основе формирования, регистрации и обработки набора интерференционных картин | Маргарянц, Никита Борисович | 2013 |
| Исследование оптико-электронных датчиков параметров и характеристик точечных излучателей | Перешивайлов, Леонид Александрович | 1998 |
| Компьютерное моделирование системы наведения взаимодействующих терминалов лазерной космической связи | Артёмов, Александр Григорьевич | 2006 |