Эллипсометрические и спектрофотометрические методы исследования и контроля оптических характеристик поверхностных слоев элементов оптотехники
- Автор:
Данилова, Татьяна Михайловна
- Шифр специальности:
05.11.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2011
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
159 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Оптико-электронный двухканальный измеритель атмосферных осадков | Кобзев, Алексей Анатольевич | 2013 |
| Проектирование и расчет высокоапертурных лазерных систем устройств хранения информации на цифровых оптических дисках | Фролов, Максим Евгеньевич | 2008 |
| Принципы построения и исследование оптических и оптико-электронных автоколлимационных угломеров | Коняхин, Игорь Алексеевич | 1998 |