Эллипсометрические и спектрофотометрические методы исследования и контроля оптических характеристик поверхностных слоев элементов оптотехники
- Автор:
Данилова, Татьяна Михайловна
- Шифр специальности:
05.11.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2011
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
159 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Поляризационно-оптические методы диагностики физико-химического состояния поверхности оптических элементов из силикатных стекол | Землянский, Владимир Сергеевич | 2009 |
| Оптико-электронные системы контроля локальной кривизны оболочек вращения в процессе их формообразования | Гиркин, Михаил Вячеславович | 2009 |
| Математическая модель сигналов в оптико-электронных системах при дистанционном зондировании земной поверхности из космоса | Меламед, Ольга Петровна | 2007 |