Эллипсометрия поверхностных слоев элементов оптоэлектроники, модифицированных ионными и электронными пучками
- Автор:
Новиков, Александр Александрович
- Шифр специальности:
05.11.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2008
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
237 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Методы и средства контроля характеристик тепловизионных приборов и систем | Бугаенко, Адольф Георгиевич | 2005 |
| Приборные системы и методы люминесцентного анализа следовых концентраций токсикантов в окружающей среде | Строганов, Александр Анатольевич | 1999 |
| Оптико-спектральные методы и средства диагностики и контроля процессов хлорной отбелки целлюлозы | Шерстобитова, Александра Сергеевна | 2011 |