Эллипсометрия поверхностных слоев элементов оптоэлектроники, модифицированных ионными и электронными пучками
- Автор:
Новиков, Александр Александрович
- Шифр специальности:
05.11.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2008
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
237 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Помехоустойчивые интерферометрические системы контроля объектов на основе формирования, регистрации и обработки набора интерференционных картин | Маргарянц, Никита Борисович | 2013 |
| Оптические элементы, на основе явления нарушенного полного внутреннего отражения в интерференционных слоях | Нгуен Ван Ба | 2019 |
| Разработка и исследование приборов для измерения оптических параметров и характеристик светодиодов | Круглов, Олег Владимирович | 2011 |