Эллипсометрия поверхностных слоев элементов оптоэлектроники, модифицированных ионными и электронными пучками
- Автор:
Новиков, Александр Александрович
- Шифр специальности:
05.11.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2008
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
237 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Разработка и исследование оптико-электронных систем кругового обзора с дискретным фасеточным угловым полем | Шатова, Екатерина Алексеевна | 2010 |
| Исследование и разработка дифракционного спектрометра для диагностики низкотемпературной пристеночной плазмы токамака методом Томсоновского рассеяния | Кочергин, Михаил Михайлович | 2005 |
| Статистические свойства спекл-полей : Применения в фотометрии и задачах механики движения тел | Попов, Иван Акиндинович | 2000 |