Эллипсометрия поверхностных слоев элементов оптоэлектроники, модифицированных ионными и электронными пучками
- Автор:
Новиков, Александр Александрович
- Шифр специальности:
05.11.07
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2008
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
237 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Волоконнооптические амплитудные методы измерения температуры в условиях воздействия сильных электромагнитных полей | Вознесенская, Анна Олеговна | 2004 |
| Оптико-электронные приборы, методы и информационное обеспечение контроля реакций биообъекта на лазерное воздействие | Новиков, Владимир Анатольевич | 2011 |
| Разработка методов построения гартмановских датчиков волнового фронта на матричных фотоприемниках | Коноплев, Сергей Владимирович | 2000 |