Измерение магнитных характеристик материалов вакуумных коммутирующих устройств

• Автор: Ишков, Антон Сергеевич
• Шифр специальности: 05.11.01
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 2006
• Место защиты: Пенза
• Количество страниц: 211 с. : ил.

Глава 1 Анализ современного состояния и проблемы измерений магнитных характеристик материалов магнитных систем вакуумных коммутирующих устройств

1.1 Краткая характеристика вакуумных коммутирующих устройств

1.2 Основные характеристики материалов магнитных систем

1.2.1 Основные физические характеристики магнитных материалов

1.2.2 Анализ магнитных характеристик материалов

1.2.3 Анализ свойств и методов измерения магнитных характеристик электротехнической стали

1.3 Выбор метода измерения магнитных характеристик электротехнической стали

1.4 Общая характеристика и анализ типов

измерительных преобразователей магнитных величин

1.5 Анализ современного состояния средств измерений магнитных характеристик

Выводы по главе

Глава 2 Исследование и развитие индукционного метода измерения статических магнитных характеристик материалов магнитных систем вакуумных коммутирующих устройств
2.1 Анализ нормативно - технической документации в области измерений магнитных характеристик электротехнической стали
2.2 Разработка алгоритмов измерений статических магнитных характеристик
2.2.1 Разработка алгоритма определения основной кривой намагничивания и петли гистерезиса в коммутационном режиме
2.2.2 Разработка алгоритма определения основной кривой намагничивания и петли гистерезиса в ступенчатом режиме

2.3 Результаты экспериментальных исследований магнитных свойств электротехнической стали
2.4 Анализ и оценка влияния скорости перемагничивания на статические магнитные характеристики электротехнической стали
2.5 Разработка требований к измерительной установке
Выводы по главе
Глава 3 Разработка автоматизированной измерительной установки
для измерений статических магнитных характеристик электротехнической стали
3.1 Разработка обобщенной структурной схемы измерительной установки
3.2 Разработка измерительных преобразователей для измерений магнитных характеристик электротехнической стали
3.2.1 Разработка и расчет проходного наружного измерительного преобразователя для прямолинейных образцов стали
3.2.2 Моделирование режимов работы наружного проходного измерительного преобразователя для исследований прямолинейных образцов электротехнической стали
3.2.3 Разработка, расчет и моделирование проходного наружного измерительного преобразователя для кольцевых образцов электротехнической стали
3.3 Разработка блока задания тока
3.4 Разработка блока измерения магнитного потока
3.5 Определение количества точек аппроксимации для построения петли гистерезиса
3.6 Разработка программного обеспечения
измерительной установки
Выводы по главе
Глава 4 Метрологическое обеспечение процесса изготовления магнитной системы вакуумных коммутирующих устройств

4.1 Анализ основной погрешности измерительной установки
для измерений магнитных характеристик электротехнической стали
4.2 Анализ дополнительной погрешности измерительной установки для измерений магнитных характеристик электротехнической стали
4.3 Использование МИУ-1 для оптимизации технологического процесса вакуумной термообработки электротехнической стали
4.4 Применение индукционного метода для исследования магнитных
и физико-механических свойств деталей сложной геометрической формы
Выводы по главе
Заключение
Список литературы
Приложение А Сталь электротехническая. Методика выполнения измерений при определении статических магнитных характеристик Приложение Б Документы о внедрении результатов диссертационной работы

Рисунок 1.7 - Накладной ИП Оси накладных ИП обычно располагаются нормально поверхности образца. Накладные ИП могут быть экранными, тогда генераторная и измерительная обмотки располагаются по разные стороны исследуемого образца.
Проходные ИП делятся на наружные, внутренние и экранные. Обмотки проходных наружных ИП охватывают исследуемый образец (рисунок 1.8).

у////////шш ?
ш

ш
У/ШШ/Ш
Рисунок 1.8 - Проходные наружные ИП Обмотки проходных внутренних ИП вводятся внутрь образца (рисунок 1.9).
1 2
/ ^ Л
/>ЧЧЧЧ<(

к\^
У/Л У///А чЧЧЧ У/Л
У/А \\Ч
Рисунок 1.9 - Проходные внутренние ИП В проходных экранных ИП намагничивающая и измерительная обмотки располагаются по разные стороны образца (рисунок 1.10).

77777/77////М
1 /2 /ря4 ?

/////////////А
/////////////А

Рисунок 1.10- Проходные внутренние ИП