Разработка рациональных алгоритмов исследования работоспособности электронных цепей

• Автор: Крутяков, Виктор Викторович
• Шифр специальности: 05.09.05
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 1984
• Место защиты: 0
• Количество страниц: 233 c. : ил

1. Исследование и формализация задачи рационального

анализа работоспособности электронных цепей

1.1. Исходные положения и определения

1.2. Формализация и уточнение задачи анализа работоспособности

1.3. Вопросы моделирования электронных цепей функциональных у^злов РЭА

I.A. Методы рационализации анализа работоспособности электронных цепей ФУ РЭА

I.A.I. Применение аппроксимационных моделей

I.A.2. Деформация исходных законов распределения внутренних параметров

I.A.3. Совместное использование текущей

и априорной информации

1.5. Выводы
2. Применение метода коррелированных процессов
для рационализации анализа вероятностных
характеристик электронных цепей
2.1. Предварительные замечания
2.2. Реализация метода коррелированных процессов для использования априорной информации, полученной при аналитическом исследовании
упрощенной схемы
2.2.1. Оценка исследуемых вероятностных
характеристик

2.2.2. Эффективность метода (точность и трудоемкость)
2.2.3. Построение алгоритма реализации МКПА
2.2.3.1. Уточнения и дополнительные
расчетные соотношения
2.2.3.2. Алгоритм А2.І
2.2.4. Экспериментальная проверка алгоритма А2.І
2.3. Реализация метода коррелированных процессов для использования априорной информации, полученной при статистическом исследовании исходной схемы
в соседней отображающей точке
2.3.1. Оценка исследуемых вероятностных характеристик
2.3.2. Эффективность метода (точность и трудоемкость)
2.3.3. Построение алгоритма реализации МКПС
2.3.3.1. Уточнения и дополнительные расчетные соотношения
2.3.3.2. Алгоритм А2
2.3.4. Экспериментальная проверка алгоритма

2.4. Комбинированный алгоритм анализа вероятностных характеристик электронных цепей по методу коррелированных процессов
2.4.1. Альтернативный подход к априорной информации. Критерии использования
2.4.2. Алгоритм А2
2.5. Выводы

3. Построение аппроксимационной модели электронных
цепей на основе методов теории чувствительности
3.1. Предварительные замечания
3.2. Топологически эквивалентные схемы и анализ чувствительности (общие вопросы)
3.2.1. Возмущенная схема и её свойства
3.2.2. Взаимоприсоединенная схема и её
свойства
3.2.3. Основные расчетные соотношения анализа чувствительности
3.2.4. Использование / У-разложения при
анализе топологически эквивалентных схем
3.3. Применение свойств топологически эквивалентных схем при построении алгоритмов анализа чувствительности
3.3.1. Определения абсолютных коэффициентов чувствительности
3.3.2. Анализ чувствительности на основе свойств взаимоприсоединенной схемы
и теоремы Телегена (метод присоединенных схем)
3.3.2.1. Анализ чувствительности электронных цепей в частотной области
3.3.2.2. Анализ чувствительности нелинейных резистивных цепей в статическом режиме
3.3.2.3. Эффективность метода присоединенных схем

где: М[’]~ операция определения математического ожидания.
3. К у ц/ - матрица корреляционных моментов, которая может быть представлена следующими частными случаями:
К с с* - дисперсия компоненты £>; ;
корреляционная матрица - строка компоненты £>2 и вектора 27.
- корреляционная матрица вектора Л
В соответствии с определением матрицы корреляционных моментов /85/ можно записать:
-уиЛ, <2-6>
(2-7)
/7п = М[(2-/ (2'8)
Пусть с исходной и упрощенной схемой проведено А/ независимых экспериментов в одинаковых условиях. Статистические значе-ния уЫ и уЫ векторов уЫ иул определятся следующим
образом:
(2.9)

Учтем также, что для упрощенной схемы может быть найдено
точное ъъачътьуЫ . Искомую оценку вектора вероятностных характеристик исходной схеиы^у/д будем определять в классе линейных по отношению к векторам у/^^у* и у оценок:
= Ау + Ву +С^ , (2.и)
где: А , 5 » С - матрицы линейного преобразования ( А имеет порядок Ях/7 В и С-Пх/77).