Прогнозирование качества упрочненных поверхностей на основе фрактальной параметризации электроискрового легирования

• Автор: Соловьев, Владислав Викторович
• Шифр специальности: 05.02.01
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 2004
• Место защиты: Комсомольск-на-Амуре
• Количество страниц: 211 с. : ил.

Список примятых сокращений и основных условных обозначений

ЗИЛ - электроискровое легирование;

ЭЭРО - электроэрозионная обработка;

ЛС - легированный слой;

ЗТВ - зона термического влияния Ер - энергия разряда;

£)*- фрактальный размер;

- мультифрактальный размер;

Д40 - характеризует периодичность структуры;

- работа эрозионного разрушения;

аэ - удельная работа эрозионного разрушения;

С - теплоемкость;

2 - теплопроводность;
Тпл - температура плавления; е - величина микроискажения;
ИС - исходной структуре;
ЭВ - энергетическое воздействие;
АП - активационные процессы;
НИС - неустойчивой измененной структурой;
ДП - диссипативные процессы;
УВ - упрочняющее воздействие;
Ь - периметр границы микролунки;
9 - полярный угол; г,1 - полярный радиус;
Кф -коэффициент оценки формы микролунки;
Э- площадь микролунки; к - соотношение диаметров микролунок;
3 - энтропия;
5 толщины легированного слоя при ЭИЛ;
/ - частота следования импульсов;

Кр - коэффициент перекрытия микролунок; с1€р - среднее значение диаметра микролунок; V - скорость перемещения электрода;
Р - силовая удельная нагрузка;
Т - стойкость резца;
Ъ - износ резца;
Jmp- интенсивность износа.

1. ФОРМИРОВАНИЕ МИКРОЛУНОК ПРИ ЭЛЕКТРОИСКРОВОМ ЛЕГИРОВАНИИ
1.1. ФИЗИЧЕСКАЯ СУЩНОСТЬ МЕТОДА ЗИЛ
1.2. ТЕРМОДИНАМИКА ПРОЦЕССА ЗИЛ
1.3 ФРАКТАЛЬНАЯ ПАРАМЕТРИЗАЦИЯ КАК ХАРАКТЕРИСТИКА НЕРАВНОВЕСТНЫХ СИСТЕМ *
1.4. ЭРОЗИОННЫЕ ПРОЦЕССЫ ПРИ ЗИЛ И ИХ РОЛЬ ПРИ ФОРМИРОВАНИИ МИКРОЛУНОК 3
2. ОБЩИЕ ВОПРОСЫ МЕТОДИКИ ИССЛЕДОВАНИЯ
2.1. ОБОСНОВАНИЕ ВЫБОРА ИССЛЕДУЕМЫХ МАТЕРИАЛОВ
2.2. МЕТОДИКА И ОБОРУДОВАНИЕ ДЛЯ ЭЛЕКТРОИСКРОВОГО ЛЕГИРОВАНИЯ
2.3. МЕТОДИКА И ОБОРУДОВАНИЕ ДЛЯ ТРИБОТЕХНИЧЕСКИХ ИСПЫТАНИЙ
2.4 МЕТОДИКА ИЗМЕРЕНИЯ ТОЛЩИНЫ ЛЕГИРОВАННОГО СЛОЯ ПРИ ЭИД
2.5.МЕТОДИКА ИССЛЕДОВАНИЯ СТРУКТУРЫ МОДИФИЦИРОВАННОГО ОБРАЗЦА
2.6. ОПРЕДЕЛЕНИЕ КОЛИЧЕСТВА И РАЗМЕРОВ ГАЗОВЫХ РАКОВИН НА МОДИФИЦИРОВАННОЙ ПОВЕРХНОСТИ
2.7. ГРАФИЧЕСКИЙ МЕТОД РАСЧЕТА ФРАКТАЛЬНОЙ РАЗМЕРНОСТИ
2.8 АНАЛИТИЧЕСКИЙ МЕТОД РАСЧЕТА ФРАКТАЛЬНОЙ РАЗМЕРНОСТИ
2.9 МЕТОДИКА ОБРАБОТКИ МИКРОФОТОГРАФИЙ ДЛЯ ОПРЕДЕЛЕНИЯ ПЕРИМЕТРА И ПЛОЩАДИ МИКРОЛУНОК
ВЫВОДЫ
3. ВЛИЯНИЕ РЕЖИМОВ ЭЛЕКТРОИСКРОВОГО ЛЕГИРОВАНИЯ НА НЕРАВНОВЕСНОСТЬ СФОРМИРОВАННЫХ ПОКРЫТИЙ.
3.1. ТОПОЛОГИЧЕСКОЕ ОПИСАНИЕ ПОКРЫТИЙ
3.2. ТЕРМОДИНАМИЧЕСКИЕ ПРЕДСТАВЛЕНИЯ ЗИЛ
3.3. УСЛОВИЯ ОБРАЗОВАНИЯ ГРАНИЦЫ МИКРОЛУНКИ
3.4. МЕХАНИЗМ ФОРМИРОВАНИЯ ПОВЕРХНОСТИ ПРИ ЗИЛ

Расчеты физической величины рентгеновской линии интерференции проводились методом аппроксимации
[70,71,80, 94,123]
Строя эту зависимость для отражения разных порядков (а для кристалла с близкими значениями модуля упругости по различным кристаллографическим направлениям и для линий с любыми индексами) получаем прямую линию (рис.2.3.). Отрезок, отсекаемый этой прямой на оси ординат, дает величину ЛЮ, а наклон прямой дает (Ас1/с1)
РсоэВэФпб Рис. 2.3 Определение значения Л/Р
Таким образом, величину микроискажений находим по формуле:
# <р = 4г£> / ЗЛ , (2.5)
где (р - угол наклона прямой линии; е - величина микроискажения;
I) - размер субблока; к - длина волны излучения.