+
Действующая цена700 499 руб.
Товаров:
На сумму:

Электронная библиотека диссертаций

Доставка любой диссертации в формате PDF и WORD за 499 руб. на e-mail - 20 мин. 800 000 наименований диссертаций и авторефератов. Все авторефераты диссертаций - БЕСПЛАТНО

Расширенный поиск

Дифракционное излучение релятивистских электронов и диагностика пучков

  • Автор:

    Науменко, Геннадий Андреевич

  • Шифр специальности:

    01.04.20

  • Научная степень:

    Докторская

  • Год защиты:

    2007

  • Место защиты:

    Томск

  • Количество страниц:

    250 с. : ил.

  • Стоимость:

    700 р.

    499 руб.

до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы

1. Теоретические основы поляризационного излучения
1.1. Переходное излучение
1.2. Дифракционное излучение
1.3. Излучение Смита-Парселла
1.4. Резонансное поляризационное излучение
1.4.1. Дифракционное излучение на стрипе (сплошной наклонной
мишени конечной ширины)
1.4.2. Резонансное дифракционное излучение от наклонной решетки
1.5. Эффект ближней (предволновой) зоны
1.6. Форм-факторы релятивистских электронных сгустков в когерентном излучении
1.6.1. Построение форм-факторов на примере синхротронного
излучения
1.6.2. Форм-факторы для переходного излучения
1.6.3. Дифракционное излучение и излучение Смита-Парселла
1.6.4. Учёт разворота банча
Заключение и выводы
2. Исследование дифракционного излучения
2.1 Оптическое дифракционное излучение
2.1.1. Экспериментальное обнаружение оптического дифракционного излучения
2.1.2. Анализ вклада синхротронного излучения в измерения
оптического дифракционного излучения электронов с энергией более 1 ГэВ
Синхротронное излучение от края поворотного магнита в тракте выведенного пучка КЕК АТР
Свойства синхротронного излучения от электронов, проходящих через подстроенные магниты

Возможные методы подавления вклада синхротронного
излучения при исследовании дифракционного излучения
2.1.3. Исследование характеристик оптического дифракционного
излучения электронов с энергией 1.28ГэВ
Измерение ДИ и краевого эффекта ПИ от проводящей полуплоскости
Измерение характеристик ДИ от щелевой проводящей мишени 100 Измерения переходного и дифракционного излучения с использованием оптических фильтров
Измерение компонент поляризации переходного и
дифракционного излучения
Подавление вклада СИ посредством его маскирования
2.2. Исследование когерентного поляризационного излучения
2.2.1. Исследование когерентного дифракционного излучения и
краевого эффекта переходного излучения
2.2.2. Измерение характеристик когерентного излучения в ближней и дальней волновой зоне
2.2.3. Измерение характеристик когерентного дифракционного
излучения с подавлением эффекта пред-волновой зоны
2.2.4. Фокусирующие свойства параболических мишеней
Заключение по главе
3. Исследование резонансного поляризационного излучения релятивистских электронов
3.1. Излучение от наклонных периодических мишеней
3.2. Исследование характеристик излучения Смита-Парселла
3.2.1. Оптическое излучение Смита-Парселла
3.2.2. Когерентное излучение Смита-Парселла
3.2.3. Характеристики излучения Смита-Парселла от мишеней различного профиля
3.3. Стимулированное когерентное излучение Смита-Парселла
Заключение по главе
4. Поляризационное излучение в диагностике пучков

4.1.Дифракционное излучение в измерении поперечных размеров микронных пучков высокой энергии
4.2.Диагностика релятивистских пучков низкой энергии
4.2.1. Измерение угловой расходимости пучка с помощью
оптического переходного излучения
4.2.2. Оптическое переходное излучение в измерении профиля
пучка
4.2.3. Невозмущающее измерение длины электронных сгустков на
основе когерентного излучения Симта-Парселла
Заключение по главе
Заключение
Литература

1.4.2. Резонансное дифракционное излучение от наклонной решетки.
Теперь рассмотрим решётку, состоящую из N полос ширины а с периодом (1, наклонённую под углом в0 к электронному пучку (см. Рис. 1.4.4). Прицельный параметр [расстояние между центром первого стрипа и электронным пучком (см. Рис. 1.4.2)] обозначим /г. Поле излучения от стрипа 1, совпадает с (1.4.8),
Рис. 1.4.4. Геометрия ДИ от наклонной решётки; Ь - прицельный параметр, а- ширина стрипа, (1 - период решётки, и в0 - угол наклона решётки.
Принимая во внимание, что поле от следующего стрипа отличается от (1.4.17) и по фазе 4 ив факторе ослабления а0,
Результирующее поле решётки из N стрипов выражается через сумму N слагаемых
(1.4.17)

(1.4.18)
которые могут быть определены по аналогии с (1.4.5) и (1.4.9):
(1.4.19)
2л(1 вігі в.
(1.4.20)
Аналогично для к-го стрипа,
г — г . р (* *)'(“о+'А)
зігір Ь
(1.4.21)

Рекомендуемые диссертации данного раздела

Время генерации: 0.166, запросов: 966