Экспериментальное изучение энергетических и угловых распределений внутреннего тормозного излучения, сопровождающего бета-переходы

• Автор: Шумейко, Адольф Петрович
• Шифр специальности: 01.04.16
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 1984
• Место защиты: Воронеж
• Количество страниц: 177 c. : ил

В в е д е н и е

Глава I. ЛИТЕРАТУРНЫЙ ОБЗОР

1.1. Внутреннее тормозное излучение, сопровождающее бета-распад ядер

1.2. Обходные переходы

1.3. Экспериментальные работы по изучению ВТИ,

сопровождающего бета-распад

Глава П. МЕТОДЫ РЕГИСТРАЦИИ И ПРИНЦИПЫ ОБРАБОТКИ

СПЕКТРОВ ВТИ

2.1. Особенности спинтилляционного спектрометра

2.2. Выбор оптимальной геометрии эксперимента и требования к источникам бета-излучения

при экспериментальном изучении ВТИ

2.3. Измерение дифференциальных спектров ВТИ и
метод относительных измерений
2.4. Система блоков спектрометрической аппаратуры для получения информации о вторичных процессах при бета-распаде
Глава Ш. ЭКСПЕРИМЕНТАЛЬНОЕ ИЗУЧЕНИЕ ЭНЕРГЕТИ
ЧЕСКЙХ И УГЛОВЫХ РАСПРЕДЕЛЕНИЙ ВТИ, СОПРОВОЖДАЮЩЕГО БЕТА - РАСПАД
3.1. Измерение однокристальным спинтилляционным
спектрометром
3.2. Измерение с помощью двухкристального комптоновского спектрометра со сложением импульсов

3.3. Измерение полупроводниковым спектрометром
3.4. Икопериментальное изучение дифференциальных спектров ВТИ, сопровождающего бета - переход

3.5. Экспериментальное изучение энергетических и угловых распределений ВТИ, сопровождающего
35 П 45 гл
бета-переход О и U&
3.6. Экспериментальное изучение сплошного энергетического распределения квантов ВТИ, сопровож35 Q
дающего бета-распад О , методом пороговых детекторов
3.7. Экспериментальное изучение энергетических и угловых распределений ВТИ, сопровождающего
204 тн «яр
уникальные бета-переходы 1 I и US
Заключение
Литература

]е) - распад атомных ядер сопровождается ^ - излучением, обладающим непрерывным энергетическим спектром. Такое излучение получило название внутреннего тормозного излучения (ВТИ). ВТИ относится к числу так называемых вторичных эффектов, сопровождающих ядерное излучение. Интерес к подобным эффектам в последние годы значительно вырос, что можно объяснить следующим:
1. В связи с развитием техники ядерной спектроскопии необходимо учитывать вторичные эффекты при обработке ядерно-спект-роскопической информации. Например, при изучении - К угловых корреляций с измерением циркулярной поляризации
квантов необходимо четко выделять вклад ВТИ при распаде,
которое обладает резко выраженной угловой анизотропией и высокой степенью циркулярной поляризации. Вклад ВТИ нужно учитывать также во многих экспериментах по изучению эффектов по несохра-нению пространственной четности в атомных ядрах.
2. Вторичные эффекты могут служить непосредственным (прямым) источником новой информации о ядерных характеристиках. Так, изучение формы спектров ВТИ при электронном захвате служит источником информации об энергии перехода, а в отдельных случаях может дать сведения о массе электронного нейтрино.
3. Вторичные эффекты могут являться источником косвенной информации о ядерной структуре. Например, изучение обходных переходов может дать сведения о функции Грина атомного ядра.
Для объяснения вторичных эффектов предпринято много усилий теоретиков, и для того, чтобы сделать выбор между различными теоретическими представлениями (моделями),возникает необходимость в получении достоверных экспериментальных данных. Относительные

В этом случае на пики полного поглощения, соответствующие
- квантам меньших энергий, накладываются непрерывные распределения от более жестких линий. Поэтому задача получения истинного спектра К - лучей из измеренного амплитудного распределения импульсов сводится к решению интегрального уравнения относительно J(E') :
Emax
ЖЕМЕ>(ЖЖ(Е',ШЕ' , (П-5)
где J(E') - истинный энергетический спектр ^ -лучей, падающих на кристалл; NŒ) - приборный спектр Y -лучей; ЩЕ.Е)-
- функция чувствительности кристалла.
Следуя работе [80], сведем уравнение (П.З) к системе связанных линейных уравнений, решение которых позволяет найти Л СЕ ) . Пусть д Е - интервалы энергий, на которые разделяются обрабатываемый и истинный спектры. Тогда число зарегистрированных прибором импульсов в интервале дЕй будет:
EmQX Af* СП
[ЗШЖЕ'.ШЕ'
дЁ(. дЕг. °
Функцию чувствительности [ЦЕ’ Е) можно представить как
ЩЕ)-Ш№,Ю > <п'5)
где УСЕ) - эффективность спектрометра; КУЕ, Е) -функция, определяющая вероятность появления импульса в интервал от Е до E+dE при условии хотя бы одного взаимодействия в кристалле фотона энергии от Е до Е + dE . функцию И(Е,Е) можно представить, как
ШЕ'.ЕЖШЕ-ЕМДВ'.Е), (П,6)
где Р(Е) фотовклад, а Ь(Е',Е) - определяется комптоновским распределением. Если учитывать только фотопоглощение и компто-