+
Действующая цена700 499 руб.
Товаров:
На сумму:

Электронная библиотека диссертаций

Доставка любой диссертации в формате PDF и WORD за 499 руб. на e-mail - 20 мин. 800 000 наименований диссертаций и авторефератов. Все авторефераты диссертаций - БЕСПЛАТНО

Расширенный поиск

Интерференционные эффекты в излучении релятивистского электрона в плотных атомных средах

  • Автор:

    Блажевич, Сергей Владимирович

  • Шифр специальности:

    01.04.16

  • Научная степень:

    Докторская

  • Год защиты:

    2002

  • Место защиты:

    Москва

  • Количество страниц:

    203 с. : ил

  • Стоимость:

    700 р.

    499 руб.

до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы

О главление
Глава I
Экспериментальная методика исследования особенностей взаимодействия релятивистских электронов в плотных средах
1.1. Формирование и транспортировка электронного пучка
1.2. Параметры мишени
1.3. Методы детектирования
1.4. Техника наблюдение ориентационных эффектов при прохождении релятивистских электронов в монокристаллические мишени
1.5. Особенности экспериментальной методики исследования излучения релятивистских электронов в рентгеновском диапазоне частот
1.6. Искажение спектров излучения релятивистскими электронами в
условиях множественного рождения фотонов
1.7. Учет наложений при регистрации фотонов, излучаемых в мишени
различными падающими частицами
1.8. Учет вероятности наложений при измерении спектров излучения в
экспериментах на импульсном ускорителе
1.9. Акустическая методика исследования взаимодействия заряженных
частиц с кристаллами
Выводы к Главе I
Глава II
Ориентационные эффекты в прохождении ультрарелятивистских электронов через кристалл
2.1. Прохождение и рассеяние релятивистских электронов в
разориентированном кристалле

2.2. Угловое рассеяние электронов падающих на кристалл под малыми
углами к кристаллографической оси
2.3. Ориентационные зависимости прохождения и рассеяния
релятивистских электронов, падающих под малыми углами к кристаллографической оси
2.4. Прохождение электронов под малыми углами к
кристаллографической плоскости
2.5. Наблюдение ориентационной зависимости прохождения в малый
телесный угол вперед релятивистских электронов падающих на кристалл под малыми углами к оси в условиях плоскостного каналирования
2.6. Ориентационная зависимость прохождения релятивистских
электронов через толстый кристалл в малый телесный угол вперед
2.7.. Расчет зависимости прохождения и рассеяния ультрарелятивистских электронов в тонкой монокристаллической мишени от ориентации кристаллографической оси
2.7.1. Постановка задачи
2.7.2. Основные соотношения
2.7.3. Результаты расчета рассеяния релятивистских электронов по полярному углу
2.7.4. Результаты расчетов прохождения релятивистских электронов
2.7.5. Сравнение с экспериментом и обсуждение результатов Выводы к Главе II
Глава III
Ориентационные эффекты в угловых распределениях излучения релятивистских электронов в кристалле
3.1. Введение
3.2. Эксперимент

3.3. Обсуждение
Выводы к Главе III

Глава IV
Эффект плотности в тормозном излучении релятивистских электронов
4.1. Влияние плотности среды на спектральное распределение
тормозного излучения релятивистских электронов
4.2. Эксперимент по обнаружению аномального эффекта плотности в
тормозном излучении релятивистских электронов в тонкой мишени
4.3. Обсуждение
Выводы к Главе IV
Глава V
Поляризационное тормозное излучение релятивистских электронов
5.1. ПТИ в плотных средах
5.1.1. Экспериментальное исследование ПТИ в аморфном углероде 13
5.1.2. Обсуждение результатов 13
5.2. Поляризационное тормозное излучение релятивистских
электронов в поликристаллической среде
5.2.1. Экспериментальное исследование ПТИ в поликристаллическом алюминии
5.2.2. Обсуждение
Выводы к главе V

(тонкого) кристалла к интенсивности разориентированного, а -характерная длина затухания когерентного эффекта в излучении частицы.
1.8. Учет вероятности наложений при измерении спектров излучения в экспериментах на импульсном ускорителе
Экспериментальное исследование процессов излучения релятивистских заряженных частиц на импульсных ускорителях значительно осложняется в связи с ограничениями в скорости набора статистики. Это ограничение определяется высокой скважностью работы ускорителя. Длительность посылки ускорителя зачастую составляет всего 1-Й0 микросекунд. Детекторы гамма и рентгеновского излучения, имеющие высокое разрешение по энергиям регистрируемых фотонов, обычно требует для регистрации одного события время порядка 10 мксек. Поэтому за одну посылку ускорителя может быть зарегистрировано одним детектором не более одного фотона. Частота посылок ускорителя не превышает несколько сотен герц, а обычно составляет величину порядка 50 Гц. Для того, чтобы за время одной посылки ускорителя с высокой вероятностью регистрировалось событие излучения одиночного фотона (а не двух или больше) необходимо, чтобы загрузка детектора была, как минимум, на порядок меньше частоты посылок ускорителя. Естественно, что набор статистики в таких условиях эксперимента затягиваются на многие часы и сутки работы ускорителя. Проблема повышения эффективности использования импульсных ускорителей в ядерно-физических экспериментах так важна, что для ее решения специально строятся крупные дополнительные установки на выходе ускорителя: накопители - растяжители, с помощью которых импульсный пучок ускоренных частиц преобразуется в квазинепрерывный.
Одним из реальных альтернативных путей повышения эффективности использования импульсных ускорителей в физическом эксперименте

Рекомендуемые диссертации данного раздела

Время генерации: 0.148, запросов: 967