Распад аморфного состояния пленок Co-P, Co-Ni-P, Fe-Si в сеточной модели и стохастическая магнитная структура

• Автор: Матохин, Анатолий Владимирович
• Шифр специальности: 01.04.11
• Научная степень: Кандидатская
• Год защиты: 1984
• Место защиты: Владивосток
• Количество страниц: 189 c. : ил

ГЛАВА I. СТРОЕНИЕ АМОРФНЫХ ПЛАНАРНЫХ СРЕД. МАГНЕТИКИ
СО СЛУЧАЙНЫМИ ПАРАМЕТРАМИ
1.1. Строение аморфных сплавов в дифракционных методах
1.2. Статистические характеристики пространственных флуктуирующих магнитных параметров в аморфном ферромагнетике
1.3. Стохастическая магнитная структура
1.4. Супероеточная модель строения аморфных планарных сред
Постановка задачи
ГЛАВА II. МЕТОДИКА ЭКСПЕРИМЕНТА.ПРОСВЕЧИВАИЦАЯ ЭЛЕКТРОННАЯ МИКРОСКОПИЯ;РАДИООПТИЧЕСКИЕ МЕТОДЫ КОЛИЧЕСТВЕННОГО АНАЛИЗА АМОРФНЫХ ПЛАНАРНЫХ СРЕД
2.1. Электронная микроскопия аморфных планарных сред
2.2. Электронная и оптическая дифракция.Подобие и различие
2.3. Оптический анализатор пространственных спектров
2.4. Метод когерентной амплитудной фильтрации в решении задач физики твердого тела
2.5. Лазерно-дифрактометрическая оценка параметров корреляционного поля флуктуации анизотропии
2.6. Общая схема и технические характеристики комплексного тракта обработки сеточных структур
ГЛАВА III. ИДЕНТИФИКАЦИЯ СЕТОЧНЫХ СТРУКТУР В АМОРФНОМ
СПЛАВЕ ТИПА ПМ-М
3.1. Кривые радиального распределения пленок
3.2. Метод МУРё в изучении аморфных ПС

3.3. Визуализация Subnetwork в пленках типа ПМ-М
3.4. Планарная стохаотическая модуляционная модель аморфной среды
Выводы
Глава IV. ИССЛЕДОВАНИЕ АНИЗОТРОПИИ СЕТОЧНЫХ СТРУКТУР АМОРФНЫХ ПЛЕНОК ТИПА ПМ-М ПРИ ИЗОТЕРМИЧЕСКОМ ОТЖИГЕ
4.1. Статистика сеток с фазовым контрастом в пленках
Со-Р , CO'/Zi-P
4.2. Поведение "бесцветных" сеток аморфных пленок ПМ-М
цри изотермическом отжиге
4.3. Принцип подобного вложения подсеток.Инверсная симметрия
4.4. Воздействие изотермического ступенчатого отжига на характер вложения подсеток,инверсную симметрию в пленках СО'Р
Выводы
Глава V. ИССЛЕДОВАНИЕ ПЛАНАРНОЙ И ВРАЩАТЕЛЬНОЙ ТМС В
МОДЕЛИ СЛУЧАЙНЫХ ПОЛЕЙ. СМС В АМОРФНЫХ ПЛЕНКАХ Co-1/l -P, Ге-S
5.1. Динамика пространственного спектра ряби намагниченности при воздействии внешних полей
5.1.1.Цифровой спектральный анализ реализаций М-структу-

5.1.2. Характеристика спектра ряби намагниченности в модели случайных потоков
5.2. Оценка планарной анизотропии тонкой магнитной структуры на когерентном спектроанализаторе
5.3. Стохастическая магнитная структура и супероетка
5.4. Корреляционные связи между стохастической магнитной

структурой аморфных пленок Со-А/с-Р, Ге-$с и особенности сеточного строения
Выводы
ЗАКЛЮЧЕНИЕ
ЛИТЕРАТУРА
ПРИЛОЖЕНИЕ

В вопросах амплитудной фильтрации этот множитель не играет существенной роли,однако,при комплексной фильтрации с применением, например,голографической техники,этот множитель должен быть учтен или исключен. Легко видеть,что для его исключения необходимо сделать с/^°о , что может быть осуществлено, если объект помещен в передней фокальной плоскости системы. Тем не менее и в этом случае распределение амплитуды в плоскости ^ , р не будет представлять фурье-образ светового поля в плоскости объекта, если источник света расположен на конечном расстоянии от объектов. Действительно,амплитуда светового поля в плоскости объекта дается выражением
Е (Х,у) = ехр [-1р-(Т2+ и для того, чтобы получить в плоскости ^ , Р точный фурье-об~ раз поля, в плоскости Х,У необходимо освещать объект коллимированным пучком света.
В оптических дифрактометрах чаще всего используют схему,в которой источник света помещен в фокусе коллиматора,а объект в непосредственной близости объектива,формирующего дифракционную картину.Преимущество такой геометрии заключается в том,что в ней масштаб дифракционной картины не зависит от положения объекта и определяется только фокусным расстоянием объектива.
Обращаясь к масштабу преобразования Фурье,можно видеть,что гармонической составляющей объекта с пространственной частотой и пространственным периодом А = соответствует в плоскости
^ максимум с координатами 1/^Т / Воспользовавшись формулами геометрической оптики, отношение^можно представить в другом, более наглядном виде
где<2'-расстояние от объекта до главной плоскости оптической