Электронно-микроскопические исследования влияния температурных режимов роста на микроструктуру и морфологию квантовых точек в системе InAs-(Al)GaAs
- Автор:
Черкашин, Николай Анатольевич
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2002
- Место защиты:
Санкт-Петербург
- Количество страниц:
128 с. : ил
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Размерные эффекты и релаксационные явления в квазиодномерных проводниках с волной зарядовой плотности | Зайцев-Зотов, Сергей Владимирович | 1999 |
| Двумерные соединения Tl-Sn, Tl-Pb и Au-Al на поверхности Si(111) | Тупчая Александра Юрьевна | 2018 |
| Электронно-зондовые исследования слоев GaA3 и структур на их основе | Соболев, Михаил Михайлович | 1984 |