Методы измерения электрических свойств наноструктур с помощью полупроводникового алмазного зонда
- Автор:
Сошников, Александр Игоревич
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2011
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
115 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Методы измерения электрических свойств наноструктур с помощью полупроводникового алмазного зонда», автор — Сошников, Александр Игоревич, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 01.04.10. Работа подготовлена в городе Москва в 2011 году. Объем работы: 115 с. : ил.. Внутренний код товара: 01004979324. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Гетероструктуры в системе твердых растворов InGaAsP и лазеры на их основе | Тарасов, Илья Сергеевич | 2002 |
| Полупроводниковые самоорганизованные наноматериалы - нелинейные системы с фрактальной размерностью | Шмидт, Наталия Михайловна | 2009 |
| Физические основы инженерии дефектов в технологии кремниевых силовых высоковольтных и светоизлучающих структур | Соболев, Николай Алексеевич | 2009 |