Методы измерения электрических свойств наноструктур с помощью полупроводникового алмазного зонда
- Автор:
Сошников, Александр Игоревич
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2011
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
115 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Методы измерения электрических свойств наноструктур с помощью полупроводникового алмазного зонда», автор — Сошников, Александр Игоревич, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 01.04.10. Работа подготовлена в городе Москва в 2011 году. Объем работы: 115 с. : ил.. Внутренний код товара: 01004979324. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Моделирование формирования микро- и наноструктур при распылении материала фокусированным ионным пучком | Румянцев, Александр Владимирович | 2018 |
| Анализ фотоприемных монокристаллических и поликристаллических слоев на основе халькогенидов свинца методами атомно-силовой микроскопии | Спивак, Юлия Михайловна | 2008 |
| Полевые и биполярные приборы на основе карбида кремния | Иванов, Павел Анатольевич | 2001 |