Методы измерения электрических свойств наноструктур с помощью полупроводникового алмазного зонда
- Автор:
Сошников, Александр Игоревич
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2011
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
115 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Люминесцентная спектроскопия электронных и примесных состояний в эпитаксиальных слоях и наногетероструктурах на основе полупроводников AIIIBV и их твердых растворов | Яременко, Наталья Георгиевна | 2013 |
| Фотоиндуцированные электронные процессы и структурные перестройки в полупроводниковых системах пониженной размерности | Тимошенко, Виктор Юрьевич | 2001 |
| Структурная модификация свойств пленок аморфного углерода | Воронцов, Владимир Анатольевич | 2001 |