Методы измерения электрических свойств наноструктур с помощью полупроводникового алмазного зонда
- Автор:
Сошников, Александр Игоревич
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2011
- Место защиты:
Москва
- Количество страниц:
115 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Диссертационная работа «Методы измерения электрических свойств наноструктур с помощью полупроводникового алмазного зонда», автор — Сошников, Александр Игоревич, относится к типу: кандидатская диссертация по специальности 01.04.10. Работа подготовлена в городе Москва в 2011 году. Объем работы: 115 с. : ил.. Внутренний код товара: 01004979324. На странице представлены основные сведения о диссертации, включая название, автора, год, город, тип работы и шифр специальности.
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Кинетико-релаксационные процессы зарядового перераспределения в структурах на основе кристаллов силленитов | Спирин, Евгений Анатольевич | 2000 |
| Исследование электрических и емкостных свойств слоев пористого кремния различной морфологии и пористости | Комаров, Евгений Павлович | 2002 |
| Исследование проводимости и магнитопроводимости легированного германия в области перехода металл-диэлектрик | Ионов, Александр Николаевич | 1983 |