Исследование полупроводниковых наногетероструктур методами токовой релаксационной спектроскопии, атомно-силовой микроскопии и спектроскопии НЧ-шумов
- Автор:
Рыбин, Николай Борисович
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
2011
- Место защиты:
Рязань
- Количество страниц:
157 с. : ил.
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Рекомбинационные процессы в однослойных массивах InAs/GaAs квантовых точек | Школьник, Алексей Сергеевич | 2006 |
| Формирование нанокластеров кремния в диоксиде кремния под воздействием электронного пучка | Колесникова, Екатерина Владимировна | 2009 |
| Акустическая микроскопия твердотельных структур | Кулаков, Михаил Александрович | 1985 |