Исследование скоплений компенсирующих центров в полупроводниках и их взаимодействия с точечными собственными дефектами
- Автор:
Рахимов, Одил
- Шифр специальности:
01.04.10
- Научная степень:
Кандидатская
- Год защиты:
1984
- Место защиты:
Ленинград
- Количество страниц:
157 c. : ил
Стоимость:
700 р.250 руб.
до окончания действия скидки
00
00
00
00
+
Наш сайт выгодно отличается тем что при покупке, кроме PDF версии Вы в подарок получаете работу преобразованную в WORD - документ и это предоставляет качественно другие возможности при работе с документом
Страницы оглавления работы
Рекомендуемые диссертации данного раздела
| Название работы | Автор | Дата защиты |
|---|---|---|
| Особенности резистивных и гальваномагнитных явлений в анизотропных полупроводниках | Мицук, Сергей Васильевич | 2008 |
| Определение неоднородностей проводимости и фотопроводимости полупроводниковых пластин по взаимодействию с миллиметровыми и субмиллиметровыми волнами | Гусева, Елена Анатольевна | 2000 |
| Влияние реальных параметров случайного поля на кинетику носителей заряда в неупорядоченных полупроводниках | Хамидуллина, Наталья Мугалимовна | 1984 |